Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
589
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(589)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
51
artikkel kogumikus
Bbuzz : a Bit-aware fuzzing framework for network protocol systematic reverse engineering and analysis
Blumbergs, Bernhards
;
Vaarandi, Risto
MILCOM 2017 - 2017 IEEE Military Communications Conference : Baltimore, Maryland, USA, 23-25 October 2017
2017
/
p. 707-712
https://doi.org/10.1109/MILCOM.2017.8170785
artikkel kogumikus
52
artikkel kogumikus
A benchmark suite for evaluating the efficiency of test tools
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Gorev, Maksim
;
Pesonen, Vadim
;
Devadze, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Brik, Marina
;
Min, Mart
;
Annus, Paul
;
Kruus, Margus
;
Meigas, Kalju
BEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia
2012
/
p. 85-88 : ill
artikkel kogumikus
53
artikkel kogumikus
BIST analyzer : a training platform for SoC testing [Electronic resource]
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Tšepurov, Anton
;
Aleksejev, Igor
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
37th Annual Frontiers in Education Conference : Global Engineering : Knowledge Without Borders, Opportunities Without Passports : Milwaukee, Wisconsin, October 10-13, 2007
2007
/
p. S3H-8-S3H-13 : ill. [CD-ROM]
http://dx.doi.org/10.1109/FIE.2007.4418125
artikkel kogumikus
54
artikkel kogumikus
Built-in self diagnosis with multiple signature analyzers in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico
2008
/
p. 29-34 : ill
artikkel kogumikus
55
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Microprocessors and microsystems
2020
/
art. 103117, 12 p
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
56
artikkel ajakirjas
Case study in testing digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Baltic electronics
1995
/
1, p. 24-27
artikkel ajakirjas
57
artikkel kogumikus
Case study-based performance evaluation of reactive planning tester
Kull, Andres
;
Raiend, Kullo
;
Vain, Jüri
;
Kääramees, Marko
Model-based Testing in Practice : 2nd Workshop on Model-based Testing in Practice(MoTiP 2009) : Enschede, The Netherlands, June 23, 2009 : proceedings
2009
/
p. 87-96 : ill
https://www.etis.ee/Portal/Publications/Display/c507fc75-771f-419a-bf67-571af65fdb66
artikkel kogumikus
58
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Circular production, designing, and mechanical testing of polypropylene-based reinforced composite materials : statistical analysis for potential automotive and nuclear applications
Hussain, Abrar
;
Podgurski, Vitali
;
Goljandin, Dmitri
;
Antonov, Maksim
;
Sergejev, Fjodor
;
Krasnou, Illia
Polymers
2023
/
art. 3410, 30 p. : ill
https://doi.org/10.3390/polym15163410
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Development of sustainable polypropylene based composites = Polüpropeeni baasil jätkusuutlike komposiitide arendus
59
artikkel kogumikus
Code coverage analysis for concurrent programming languages using high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 12th European Workshop on Dependable Computing : EWDC 2009 : Toulouse, France, May 14-15, 2009
2009
/
[4] p. : ill
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00381559
artikkel kogumikus
60
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Cognitive disorders in patients with chronic kidney disease : specificities of clinical assessment
Pepin, Marion
;
Ferreira, Ana Carina
;
Arici, Mustafa
;
Bachmann, Maie
;
Barbieri, Michelangela
;
Bumblyte, Inga Arune
Nephrology Dialysis Transplantation
2022
/
p. ii23-ii32
https://doi.org/10.1093/ndt/gfab262
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
61
artikkel kogumikus
Combined pseudo-exhaustive and deterministic testing of array multipliers
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ubar, Raimund-Johannes
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 21st edition, 24th-26th May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2018
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/AQTR.2018.8402708
artikkel kogumikus
62
artikkel kogumikus
Combining dynamic slicing and mutation operators for ESL correction
Repinski, Urmas
;
Hantson, Hanno
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th-June 1st, 2012, Annecy, France
2012
/
[6] p. : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/6233020
artikkel kogumikus
63
artikkel ajakirjas
Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics reliability
1998
/
3, p. 317-329 : ill
artikkel ajakirjas
64
artikkel kogumikus
Comparative analysis of sequential circuit test generation approaches
Raik, Jaan
;
Krivenko, Anna
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 225-228 : ill
artikkel kogumikus
65
artikkel kogumikus
Comparative mixed-signal test method and toolset
Mellik, Andres
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 153-154 : ill
artikkel kogumikus
66
artikkel kogumikus
Comparative mixed-signal test method and toolset
Mellik, Andres
;
Raik, Jaan
IEEE International Workshop on Open Source Test Technology Tools (IOST3)
2007
/
? p
artikkel kogumikus
67
artikkel kogumikus
Comparison of different soil compaction test methods [Electronic resource]
Aavik, Andrus
26th International Baltic Road Conference : Kuressaare, 28-30 August, 2006
2006
artikkel kogumikus
68
artikkel kogumikus
Compliance testing concept of grid-connected inverter-based resources using simulated input
Dvoracek, Jiri
;
Drapela, Jiri
;
Moravek, Jan
;
Vojtek, Martin
;
Toman, Petr
;
Rassõlkin, Anton
;
Vaimann, Toomas
2023 23rd International Scientific Conference on Electric Power Engineering (EPE)
2023
https://doi.org/10.1109/EPE58302.2023.10149232
artikkel kogumikus
69
artikkel kogumikus
A comprehensive methodology for stress procedures evaluation and comparison for Burn-In of automotive SoC
Appello, D.
;
Bernardi, P.
;
Giacopelli, G.
;
Ruberg, Priit
Proceedings of the 2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 27-31 March 2017, Swisstech, Lausanne, Switzerland
2017
/
p. 646-649 : ill
https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7927068
artikkel kogumikus
70
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Concept drift and cross-device behavior : challenges and implications for effective android malware detection
Guerra Manzanares, Alejandro
;
Luckner, Marcin
;
Bahsi, Hayretdin
Computers & Security
2022
/
art. 102757, 20 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.cose.2022.102757
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Machine learning-based detection and characterization of evolving threats in mobile and IoT Systems = Masinõppepõhine arenevate ohtude tuvastamine ning kirjeldamine mobiilseadmete ja värkvõrkude jaoks
71
artikkel kogumikus
Conceptual test bench for small class unmanned autonomous vehicle performance estimation
Pütsep, Kristjan
;
Rassõlkin, Anton
;
Vaimann, Toomas
2021 IEEE 19th International Power Electronics and Motion Control Conference, The Silesian University of Technology Gliwice, Poland, 25 - 29 April, 2021 (PEMC) : proceedings
2021
/
p. 695-698 : ill
https://doi.org/10.1109/PEMC48073.2021.9432509
artikkel kogumikus
72
artikkel kogumikus
Condition assessment of power plant components operating under creep by testing of miniature specimens
Klevtsov, Ivan
;
Dedov, Andrei
Creep and Fracture in High Temperature Components : April 21-23, 2009, Zurich, Swizerland
2009
/
p. 1126-1137
artikkel kogumikus
73
artikkel kogumikus
Conditional fault collapsing in digital circuits with shared structurally synthesized BDDs [Online resource]
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600967
artikkel kogumikus
74
artikkel kogumikus
Constraint-based hierarchical untestability identification for synchronous sequential circuits
Raik, Jaan
;
Rannaste, Anna
;
Jenihhin, Maksim
;
Viilukas, Taavi
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Fujiwara, Hideo
Sixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim
2011
/
p. 147-152
artikkel kogumikus
75
artikkel kogumikus
Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits
Viilukas, Taavi
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Rannaste, Anna
;
Jenihhin, Maksim
;
Fujiwara, Hideo
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
2011
/
p. 139-142 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 589, kuvan
51 - 75
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT