Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
582
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(582)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
226
artikkel ajakirjas
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
Microprocessors and microsystems
2008
/
5/6, p. 254-262 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0141933108000288
artikkel ajakirjas
227
artikkel kogumikus
Hybrid BIST scheduling for NoC-based SoCs
Jervan, Gert
;
Shchenova, Tatjana
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 141-144 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4126966
artikkel kogumikus
228
artikkel kogumikus
Hybrid BIST time minimization for core-based systems with STUMPS architecture
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 3-5 November 2003, Boston, Massachusetts : proceedings
2003
/
p. 225-232 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1250116
artikkel kogumikus
229
dissertatsioon
Hybrid built-in self-test : methods and tools for analysis and optimization of BIST = Sisseehitatud hübriidne isetestimine : meetodid ja vahendid analüüsiks ning optimeerimiseks
Orasson, Elmet
2007
https://www.ester.ee/record=b2305436*est
dissertatsioon
230
raamat
Hybrid built-in self-test and test generation techniques for digital systems
Jervan, Gert
2005
https://www.ester.ee/record=b2177537*est
raamat
231
artikkel kogumikus
Hybrid functional BIST for digital systems
Mazurova, Natalja
;
Smahtina, Julia
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 205-208 : ill
artikkel kogumikus
232
artikkel kogumikus
Hydraulic conductivity testing method for all-in aggregates and mining waste materials
Šommet, Julija
;
Pastarus, Jüri-Rivaldo
;
Sabanov, Sergei
10th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering”. Doctoral School of Energy and Geotechnology II : Pärnu, Estonia, January 10-15, 2011
2011
/
p. 122-126 : ill
artikkel kogumikus
233
artikkel ajakirjas
Hygrothermal calculations and laboratory tests on timber-framed wall structures
Kalamees, Targo
;
Vinha, Juha
Building and environment
2003
/
5, p. 689-697 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S036013230200207X
artikkel ajakirjas
234
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
IEEE European Test Symposium (ETS)
Eggersgluss, Stephan
;
Hamdioui, Said
;
Jutman, Artur
;
Michael, Maria K.
;
Raik, Jaan
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000148
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
235
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
2020
/
p. 646-650
https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105
artikkel kogumikus
236
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
237
artikkel kogumikus
An improved estimation methodology for hybrid BIST cost calculation
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Korelina, Olga
Proceedings [of] 22nd NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 2004
2004
/
p. 297-300 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1423882
artikkel kogumikus
238
artikkel kogumikus
Improved modeling of audio signals by modifying transient locations
Vafin, Renat
;
Heusdens, Richard
;
Par, Steven van de
;
Kleijn, W. Bastiaan
Proceedings of the 2001 IEEE Workshop on Applications of Signal Processing to Audio and Acoustics : October 21-24,2001, Mohonk Mountain House, New Paltz, New York, USA
2001
/
p. 143-143 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/969563
artikkel kogumikus
239
artikkel kogumikus
Improving embedded software testing
Savimaa, Raul
SCI 2004 : the 8th World Multi-Conference on Systemics, Cybernetics and Informatics : July 18-21, 2004, Orlando, Florida, USA. Volume 1, Information Systems, Technologies and Applications : proceedings
2004
/
p. 270-274
artikkel kogumikus
240
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Inductive and coinductive predicate liftings for effectful programs
Veltri, Niccolò
;
Voorneveld, Niels F.W.
Proceedings 37th Conference on Mathematical Foundations of Programming SemanticsHybrid: Salzburg, Austria and Online, 30th August - 2nd September, 2021
2021
/
p. 260-277
https://doi.org/10.4204/EPTCS.351.16
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
241
artikkel kogumikus
Integrated design and test generation under Internet based environment MOSCITO
Schneider, Andre
;
Ivask, Eero
;
Ubar, Raimund-Johannes
Euromicro Symposium on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : September 4-6, 2002, Dortmund, Germany : proceedings
2002
/
p. 187-194 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2002.1115368
artikkel kogumikus
242
artikkel ajakirjas
Integrated self-regulating resistive heating for isothermal nucleic acid amplification tests (NAAT) in Lab-on-a-Chip (LoC) devices
Pardy, Tamas
;
Tulp, Indrek
;
Kremer, Clemens
;
Rang, Toomas
;
Stewart, Ray
PLoS ONE
2017
/
p. 1-11 : ill
https://doi.org/10.1371/journal.pone.0189968
artikkel ajakirjas
243
raamat
Intelligent support for expert system verification and testing in object-oriented programming environments : (preprint)
Trausan-Matu, S.
;
Tepandi, Jaak
;
Barbuceanu, M.
1990
raamat
244
artikkel kogumikus
Interaction coefficient for resistance to fragmentation by GOST and EN test results
Koreneva, Julia
;
Šommet, Julija
Road and Rail Infrastructure V : proceedings of the 5th International Conference on Road and Rail Infrastructures – CETRA 2018, 17-19 May 2018, Zadar, Croatia
2018
/
p. 207–214
https://doi.org/10.5592/CO/cetra.2018.896
artikkel kogumikus
245
artikkel kogumikus
Internet based test generation and fault simulation
Ivask, Eero
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Schneider, Andre
IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - IEEE DDECS 2001 : Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Györ, Hungary, April 18-20, 2001
2001
/
p. 57-60 : ill
artikkel kogumikus
246
artikkel kogumikus
Internet-based collaborative test generation with MOSCITO [Electronic resource]
Schneider, Andre
;
Ivask, Eero
;
Miklos, P.
;
Raik, Jaan
;
Diener, Karl-Heinz
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
SIGDA publications on CD-ROM : DATE'02 : Design, Automation and Test in Europe, Paris, France, March 4-8, 2002
2002
/
[6] p. [CD-ROM]
https://www.cecs.uci.edu/~papers/date07/PAPERS/2002/DATE02/PDFFILES/02E_2.PDF
artikkel kogumikus
247
artikkel kogumikus
Internet-based software for teaching test of digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
2002
/
p. 659-662 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003344
artikkel kogumikus
248
artikkel kogumikus
Internet-based software for teaching test of digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Evartson, Teet
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Microelectronics education : proceedings of the 4th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2002, Spain, May 23-24, 2002
2002
/
p. 317-320 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003344
artikkel kogumikus
249
artikkel kogumikus
Internet-based testability-driven test generation in the virtual environment MOSCITO
Schneider, Andre
;
Diener, Karl-Heinz
;
Elst, G.
;
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
International Federation for Information Processing IFIP : International Workshop on IP-Based SoC Design 2002 : proceedings : Grenoble, October 30-31, 2002
2002
/
p. 357-362 : ill
http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-287433.html
artikkel kogumikus
250
artikkel ajakirjas
ISS seminar disaini verifitseerimisest ja testimise automatiseerimisest
Tammemäe, Kalle
Arvutustehnika ja Andmetöötlus
1997
/
7/8, lk. 47-52
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 582, kuvan
226 - 250
eelmine
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT