Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
589
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(589)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
76
artikkel kogumikus
Constraint-based test pattern generation at the register-transfer level
Viilukas, Taavi
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14-16, 2010, Vienna, Austria
2010
/
p. 352-357 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2010.5491752
artikkel kogumikus
77
artikkel kogumikus
Constraint-based test scenario description language
Vain, Jüri
;
Halling, Evelin
BEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia
2012
/
p. 89-92 : ill
artikkel kogumikus
78
dissertatsioon
Constraints solving based hierarchical test generation for synchronous sequential circuits = Kitsenduste lahendamisel baseeruv hierarhiline testigenereerimine sünkroonsetele järjestikskeemidele
Viilukas, Taavi
2012
https://www.ester.ee/record=b2888278*est
dissertatsioon
79
artikkel kogumikus
Construction of aspect models for model-based testing
Sarna, Külli
;
Vain, Jüri
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
2011
/
p. 67-70 : ill
artikkel kogumikus
80
artikkel ajakirjas
Construction of the tests of combinational circuit failures by analyzing the orthogonal disjunctive normal forms represented by the alternative graphs
Matrosova, A.Yu.
;
Pleshkov, A.G.
;
Ubar, Raimund-Johannes
Automation and remote control
2005
/
p. 313-327 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10513-005-0054-9
artikkel ajakirjas
81
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Contributions to ventilation system demand response: a case study of an educational building
Maask, Vahur
;
Mikola, Alo
;
Korõtko, Tarmo
;
Rosin, Argo
;
Thalfeldt, Martin
E3S Web Conference: Cold Climate HVAC and Energy 2021
2021
/
art. 11001, 6 p
https://doi.org/10.1051/e3sconf/202124611001
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Seotud publikatsioonid
1
Research and development of explicit demand flexibility management methods for ventilation systems = Ventilatsioonisüsteemidele otsese energiapaindlikkuse juhtimismeetodite uurimine ja arendamine
82
artikkel ajakirjas
Correlation between COVID-19 cases and gold price fluctuation
Gautam, Roshan
;
Kim, Yoochan
;
Topal, Erkan
;
Hitch, Michael William
International journal of mining, reclamation and environment
2022
/
p. 574-586
https://doi.org/10.1080/17480930.2022.2077542
artikkel ajakirjas
83
artikkel kogumikus
Corrosion of cement and concrete - methods of testing and evaluation
Raado, Lembi-Merike
;
Hain, Tiina
Management of Durability in the Building Process : International Workshop : Milan, 25-26 June 2003 : proceedings
2003
/
[7] p. : ill
artikkel kogumikus
84
artikkel kogumikus
Cybersecurity test range for autonomous vehicle shuttles
Roberts, Andrew
;
Snetkov, Nikita
;
Maennel, Olaf Manuel
2021 IEEE European Symposium on Security and Privacy Workshops EuroS&PW 2021 : Virtual Conference, 6-10 September 2021 : proceedings
2021
/
p. 239-249 : ill
https://doi.org/10.1109/EuroSPW54576.2021.00031
artikkel kogumikus
85
artikkel kogumikus
DACA : automated attack scenarios and dataset generation
Korving, Frank
;
Vaarandi, Risto
Proceedings of the 18th International Conference on Cyber Warfare and Security, ICCWS 2023, a conference hosted by Towson University, Baltimore County, Maryland, USA, 9-10 March 2023
2023
/
p. 550-559 : ill
https://papers.academic-conferences.org/index.php/iccws/article/download/962/938
https://doi.org/10.34190/iccws.18.1.962
artikkel kogumikus
86
artikkel ajakirjas
DECIDER : a system for hierarchical test pattern generation
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Radioelectronics and informatics
2003
/
p. 40-45 : ill
https://www.researchgate.net/publication/250395975_DECIDER_A_System_for_Hierarchical_Test_Pattern_Generation
artikkel ajakirjas
87
artikkel ajakirjas
Decision diagrams - from a mathematical notion to engineering applications
Stankovic, Radomir S.
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Astola, Jaakko
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2011
/
p. 281-301 : ill
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103281S
artikkel ajakirjas
88
artikkel kogumikus
Decision diagrams and digital test
Ubar, Raimund-Johannes
ECMS 2003 : 6th International Workshop on Electronics, Control, Measurment and Signals : Liberec, Czechia, June 2-4, 2003
2003
/
p. 266-273 : ill
http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_35(2005)4p187.pdf
artikkel kogumikus
89
artikkel kogumikus
Decision diagrams and digital test
Ubar, Raimund-Johannes
41th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials : MIDEM 2005 : Ribno at Bled, Slovenia : invited plenary paper
2005
/
p. 15-26
artikkel kogumikus
90
artikkel ajakirjas
DeepAxe : a framework for exploration of approximation and reliability trade-offs in DNN accelerators
Taheri, Mahdi
;
Riazati, Mohamad
;
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Jenihhin, Maksim
;
Daneshtalab, Masoud
;
Raik, Jaan
;
Sjödin, Mikael
;
Lisper, Björn
arXiv.org
2023
/
8 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2303.0822
artikkel ajakirjas
91
artikkel kogumikus
Defect-oriented BIST quality analysis
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 153-156 : ill
artikkel kogumikus
92
artikkel kogumikus
Defect-oriented fault simulation and test generation in digital circuits
Kuzmicz, W.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE ISQED 2001 : proceedings of the IEEE 2001 2nd International Symposium on Quality Electronic Design : March 26-28, 2001, San Jose, California
2001
/
p. 365-371
https://ieeexplore.ieee.org/document/915257
artikkel kogumikus
93
artikkel kogumikus
Defect-oriented test- and layout-generation for standard-cell ASIC designs
Sudbrock, Joachim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuzmicz, Wieslaw
;
Pleskacz, Witold A.
Proceedings : DSD'2005 : 8th Euromicro Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : Porto, Portugal, August 30 - September 3, 2005
2005
/
p. 79-82 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1559781
artikkel kogumikus
94
artikkel kogumikus
Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO
Schneider, Andre
;
Diener, Karl-Heinz
;
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
;
Ivask, Eero
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pleskacz, Witold A.
;
Kuzmicz, W.
BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia
2002
/
p. 303-306 : ill
artikkel kogumikus
95
artikkel kogumikus
Defect-oriented test generation using probabilistic estimation
Cibakova, Tatiana
;
Fischerova, Maria
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 8th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2001 : Zakopane, Poland, 21-23 June 2000
2001
/
p. 131-136 : ill
artikkel kogumikus
96
artikkel kogumikus
Defects, faults and fault models
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pleskacz, Witold A.
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 26-96 : ill
artikkel kogumikus
97
artikkel ajakirjas
DefSim: a remote laboratory for studying physical defects in CMOS digital circuits
Pleskacz, Witold A.
;
Stopjakova, Viera
;
Borejko, Tomasz
;
Jutman, Artur
;
Walkanis, Andrzej
IEEE transactions on industrial electronics
2008
/
6, p. 2405-2415 : ill
https://www.researchgate.net/publication/3219964_DefSim_A_Remote_Laboratory_for_Studying_Physical_Defects_in_CMOS_Digital_Circuits
artikkel ajakirjas
98
artikkel kogumikus
DefSim: measurement environment for CMOS defects
Borejko, Tomasz
;
Jutman, Artur
;
Pleskacz, Witold A.
;
Ubar, Raimund-Johannes
2006 25th International Conference on Microelectronics : Belgrade, Serbia and Montenegro, 14-17 May 2006 : proceedings. Volume 2
2006
/
p. 679-682
https://ieeexplore.ieee.org/document/1651048
artikkel kogumikus
99
artikkel kogumikus
Design and analysis of a DC solid-state circuit breaker for energy router application : [conference paper]
Rahimpour, Saeed
21st International Symposium "Topical problems in the field of electrical and power engineering. Doctoral school of energy and geotechnology. III" : Pärnu, Estonia, June 15-18, 2022
2022
/
p. 63-64 : ill
https://www.ester.ee/record=b5504019*est
artikkel kogumikus
100
artikkel kogumikus
Design and modelling of electric drive in database environment [Electronic resource]
Vodovozov, Valery
;
Pettai, Elmo
;
Auväärt, Aivar
ISIE08 : 2008 IEEE International Symposium on Industrial Electronics : 30 June - 2 July 2008, Cambridge, United Kingdom
2008
/
p. 764-767 : ill. [CD-ROM]
https://ieeexplore.ieee.org/document/4676891
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 589, kuvan
76 - 100
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT