Brik, M., Jervan, G., Markus, A., Raik, J., Ubar, R.

täiskirje prindi

Hierarchical test generation for digital systems

autor

Brik, Marina

Jervan, Gert

Markus, Antti

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Marina Brik, Gert Jervan, Antti Markus, Jaan Raik and Raimund Ubar

allikas

Mixed design of integrated circuits and systems

ilmumiskoht

Boston

kirjastus/väljaandja

Kluwer Academic Publishers

ilmumisaasta

1998

leheküljed

p. 131-136: ill

leitav

https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4615-5651-0_20

ISBN

0-7923-8116-5

märkused

Bibl. 15 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaaltehnika

testimine

graafid

mudelid

Brik, M., Jervan, G., Markus, A., Raik, J., Ubar, R. Hierarchical test generation for digital systems // Mixed design of integrated circuits and systems. Boston : Kluwer Academic Publishers, 1998. p. 131-136: ill. https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4615-5651-0_20