Hierarchical test generation for digital systems
vastutusandmed
Marina Brik, Gert Jervan, Antti Markus, Jaan Raik and Raimund Ubar
ilmumiskoht
Boston
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 131-136: ill
ISBN
0-7923-8116-5
märkused
Bibl. 15 ref
Brik, M., Jervan, G., Markus, A., Raik, J., Ubar, R. Hierarchical test generation for digital systems // Mixed design of integrated circuits and systems. Boston : Kluwer Academic Publishers, 1998. p. 131-136: ill.