TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R., Jürimägi, L., Oyeniran, A. S., Jenihhin, M.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
Jürimägi, Lembit
Oyeniran, Adeboye Stephen
Jenihhin, Maksim
pealkiri True path tracing in structurally synthesized BDDs for testability analysis of digital circuits
vastutusandmed Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Adeniyi Olanrewaju Adekoya, Maksim Jenihhin
allikas Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2019 : 28 - 30 August 2019 Kallithea, Chalkidiki, Greece : proceedings
ilmumiskoht Danvers
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta c2019
leheküljed p. 492-499 : ill
konverentsi nimetus, aeg 22nd Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2019, 28 - 30 August 2019
konverentsi toimumispaik Kallithea, Chalkidiki, Greece
märksõna digitaalintegraallülitused
digitaaltehnika
otsustusdiagrammid
võtmesõna combinational circuits
signal probabilities
controllability
testability
fault redundancy
structurally synthesized BDDs
ISBN 978-1-7281-2861-0
978-1-7281-2863-4
märkused Bibliogr.: 25 ref
url https://doi.org/10.1109/DSD.2019.00077