TalTech publikatsioonid
pealdis Brik, M., Ubar, R.
maakood ed
autor Brik, Marina
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri An improved test generation approach for sequential circuits using decision diagrams
vastutusandmed Marina Brik, Raimund Ubar
allikas BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht [Tallinn]
ilmumisaasta c1998
leheküljed p. 155-158: ill
ISBN 9985-59-081-3
märkused Bibl. 8 ref