Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/145)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
145
1.
at-speed testing
2.
absolute convergence with speed
3.
A-statistical convergence with speed
4.
boundedness and summability with speed
5.
boundedness with speed
6.
convergence and absolute convergence with speed
7.
convergence and boundedness with speed
8.
convergence and α-absolute convergence with speed
9.
convergence with speed
10.
Drilling speed
11.
high speed boat
12.
high speed craft (HSC)
13.
high speed machining
14.
high speed measurement
15.
high speed planing craft
16.
high-speed
17.
high-speed camera
18.
high-speed craft
19.
high-speed design
20.
high-speed MAS (magic angle spinning)
21.
high-speed planing crafts
22.
high-speed rail
23.
high-speed railway
24.
high-speed serial link test
25.
high-speed temperature scanner
26.
high-speed temperature scanner (HSTS)
27.
high-speed thermogravimetric analysis
28.
low speed
29.
operational speed
30.
paranormal absolute convergence with speed
31.
paranormal boundedness with speed
32.
paranormal convergence with speed
33.
paranormed absolute convergence with speed
34.
paranormed boundedness with speed
35.
paranormed convergence with speed
36.
paranormed zero-convergence with speed
37.
peeling speed
38.
Pollen fall speed
39.
speed
40.
speed and position estimation
41.
speed of convergence
42.
speed of releases
43.
speed tracking setpoints
44.
speed-Maddox spaces
45.
summability and absolute summability with speed
46.
summability and boundedness with speed
47.
zero-convergence with speed
48.
variable speed drive
49.
variable speed drives
50.
variable speed wind turbines
51.
variable-speed drives
52.
variable-speed drives (VSDs)
53.
water speed
54.
wind speed
55.
α-absolute convergence with speed
56.
α-absolute summability with speed
57.
accelerated testing
58.
acoustomechanical testing
59.
anaerobic testing
60.
aspect-oriented testing
61.
assessment and testing
62.
benchmark testing
63.
Berridge testing
64.
burst testing
65.
cancer genomic testing
66.
circuit testing
67.
compliance testing
68.
compositional testing
69.
computer aided testing
70.
cone heater testing
71.
conformance testing
72.
courses on electronic testing and design
73.
cybersecurity testing
74.
D. non-destructive testing
75.
deformation testing
76.
design field testing
77.
destructive testing
78.
eddy current testing
79.
eddy current testing (ECT)
80.
erosion testing
81.
fabric testing
82.
fatigue testing
83.
fire testing
84.
hierarchical testing
85.
hypotheses testing
86.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
87.
integration testing
88.
laboratory scale testing
89.
load testing
90.
macro mechanical testing and green surface tribology
91.
material testing
92.
materials testing
93.
measurement and testing
94.
mechanical testing
95.
memory testing
96.
metamorphic testing
97.
microprocessor testing
98.
model based testing
99.
model-based mutation testing
100.
model-based testing
101.
multi-scenario testing
102.
mutation testing
103.
network-testing
104.
non destructive testing
105.
nondestructive testing
106.
non-destructive testing
107.
non-destructive testing (NDT)
108.
On-site drug testing
109.
on-site testing
110.
pin on disc wear testing
111.
PMU calibration testing
112.
PMU testing
113.
point-of-care testing
114.
processor core testing
115.
processor testing
116.
real-time HiL testing
117.
regression testing
118.
RISC processor testing
119.
robustness testing
120.
safety and security testing
121.
scenario testing
122.
Scenario-Based Testing
123.
scratch testing
124.
security testing
125.
shear testing
126.
small-scale fire testing
127.
software testing
128.
software-in-the-loop (SIL) testing
129.
stand-alone testing
130.
stress-testing
131.
substation testing methods
132.
system testing
133.
tensile testing
134.
testing
135.
testing methods
136.
testing of digital devices
137.
testing of generator
138.
testing of phasor measurement units
139.
two-dimensional array testing
140.
ultrasonic testing
141.
wafer testing
142.
wear testing
143.
well testing
144.
vibration testing
145.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT