Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/143)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
143
1.
at-speed testing
2.
absolute convergence with speed
3.
A-statistical convergence with speed
4.
boundedness and summability with speed
5.
boundedness with speed
6.
convergence and absolute convergence with speed
7.
convergence and boundedness with speed
8.
convergence and α-absolute convergence with speed
9.
convergence with speed
10.
Drilling speed
11.
high speed boat
12.
high speed craft (HSC)
13.
high speed machining
14.
high speed measurement
15.
high speed planing craft
16.
high-speed
17.
high-speed camera
18.
high-speed craft
19.
high-speed design
20.
high-speed MAS (magic angle spinning)
21.
high-speed planing crafts
22.
high-speed rail
23.
high-speed railway
24.
high-speed serial link test
25.
high-speed temperature scanner
26.
high-speed temperature scanner (HSTS)
27.
high-speed thermogravimetric analysis
28.
low speed
29.
operational speed
30.
paranormal absolute convergence with speed
31.
paranormal boundedness with speed
32.
paranormal convergence with speed
33.
paranormed absolute convergence with speed
34.
paranormed boundedness with speed
35.
paranormed convergence with speed
36.
paranormed zero-convergence with speed
37.
peeling speed
38.
Pollen fall speed
39.
speed
40.
speed and position estimation
41.
speed of convergence
42.
speed of releases
43.
speed tracking setpoints
44.
speed-Maddox spaces
45.
summability and absolute summability with speed
46.
summability and boundedness with speed
47.
zero-convergence with speed
48.
variable speed drive
49.
variable speed drives
50.
variable speed wind turbines
51.
variable-speed drives
52.
variable-speed drives (VSDs)
53.
water speed
54.
wind speed
55.
α-absolute convergence with speed
56.
α-absolute summability with speed
57.
accelerated testing
58.
acoustomechanical testing
59.
anaerobic testing
60.
aspect-oriented testing
61.
assessment and testing
62.
benchmark testing
63.
Berridge testing
64.
burst testing
65.
cancer genomic testing
66.
compliance testing
67.
compositional testing
68.
computer aided testing
69.
cone heater testing
70.
conformance testing
71.
courses on electronic testing and design
72.
cybersecurity testing
73.
D. non-destructive testing
74.
deformation testing
75.
design field testing
76.
destructive testing
77.
eddy current testing
78.
eddy current testing (ECT)
79.
erosion testing
80.
fabric testing
81.
fatigue testing
82.
fire testing
83.
hierarchical testing
84.
hypotheses testing
85.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
86.
integration testing
87.
laboratory scale testing
88.
load testing
89.
macro mechanical testing and green surface tribology
90.
material testing
91.
materials testing
92.
measurement and testing
93.
mechanical testing
94.
memory testing
95.
metamorphic testing
96.
microprocessor testing
97.
model based testing
98.
model-based mutation testing
99.
model-based testing
100.
multi-scenario testing
101.
mutation testing
102.
network-testing
103.
non destructive testing
104.
nondestructive testing
105.
non-destructive testing
106.
non-destructive testing (NDT)
107.
On-site drug testing
108.
on-site testing
109.
pin on disc wear testing
110.
PMU calibration testing
111.
PMU testing
112.
point-of-care testing
113.
processor core testing
114.
processor testing
115.
real-time HiL testing
116.
regression testing
117.
RISC processor testing
118.
robustness testing
119.
safety and security testing
120.
scenario testing
121.
Scenario-Based Testing
122.
scratch testing
123.
security testing
124.
shear testing
125.
small-scale fire testing
126.
software testing
127.
software-in-the-loop (SIL) testing
128.
stand-alone testing
129.
stress-testing
130.
substation testing methods
131.
system testing
132.
tensile testing
133.
testing
134.
testing methods
135.
testing of digital devices
136.
testing of generator
137.
testing of phasor measurement units
138.
two-dimensional array testing
139.
ultrasonic testing
140.
wafer testing
141.
wear testing
142.
vibration testing
143.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT