Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/137)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
137
1.
at-speed testing
2.
absolute convergence with speed
3.
A-statistical convergence with speed
4.
boundedness and summability with speed
5.
boundedness with speed
6.
convergence and absolute convergence with speed
7.
convergence and boundedness with speed
8.
convergence and α-absolute convergence with speed
9.
convergence with speed
10.
Drilling speed
11.
high speed boat
12.
high speed craft (HSC)
13.
high speed machining
14.
high speed measurement
15.
high-speed
16.
high-speed camera
17.
high-speed craft
18.
high-speed design
19.
high-speed MAS (magic angle spinning)
20.
high-speed planing crafts
21.
high-speed railway
22.
high-speed serial link test
23.
high-speed temperature scanner
24.
high-speed temperature scanner (HSTS)
25.
high-speed thermogravimetric analysis
26.
low speed
27.
operational speed
28.
paranormal absolute convergence with speed
29.
paranormal boundedness with speed
30.
paranormal convergence with speed
31.
paranormed absolute convergence with speed
32.
paranormed boundedness with speed
33.
paranormed convergence with speed
34.
paranormed zero-convergence with speed
35.
peeling speed
36.
Pollen fall speed
37.
speed
38.
speed and position estimation
39.
speed of convergence
40.
speed of releases
41.
speed tracking setpoints
42.
speed-Maddox spaces
43.
summability and absolute summability with speed
44.
summability and boundedness with speed
45.
zero-convergence with speed
46.
variable speed drive
47.
variable speed drives
48.
variable speed wind turbines
49.
variable-speed drives
50.
variable-speed drives (VSDs)
51.
water speed
52.
wind speed
53.
α-absolute convergence with speed
54.
α-absolute summability with speed
55.
accelerated testing
56.
acoustomechanical testing
57.
anaerobic testing
58.
aspect-oriented testing
59.
assessment and testing
60.
benchmark testing
61.
Berridge testing
62.
burst testing
63.
cancer genomic testing
64.
compliance testing
65.
compositional testing
66.
computer aided testing
67.
cone heater testing
68.
conformance testing
69.
courses on electronic testing and design
70.
cybersecurity testing
71.
D. non-destructive testing
72.
deformation testing
73.
design field testing
74.
destructive testing
75.
eddy current testing
76.
eddy current testing (ECT)
77.
erosion testing
78.
fabric testing
79.
fatigue testing
80.
fire testing
81.
hierarchical testing
82.
hypotheses testing
83.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
84.
integration testing
85.
laboratory scale testing
86.
load testing
87.
macro mechanical testing and green surface tribology
88.
material testing
89.
materials testing
90.
measurement and testing
91.
mechanical testing
92.
memory testing
93.
metamorphic testing
94.
microprocessor testing
95.
model based testing
96.
model-based mutation testing
97.
model-based testing
98.
mutation testing
99.
network-testing
100.
non destructive testing
101.
nondestructive testing
102.
non-destructive testing
103.
on-site testing
104.
pin on disc wear testing
105.
PMU calibration testing
106.
PMU testing
107.
point-of-care testing
108.
processor core testing
109.
processor testing
110.
real-time HiL testing
111.
regression testing
112.
RISC processor testing
113.
robustness testing
114.
safety and security testing
115.
scenario testing
116.
scratch testing
117.
security testing
118.
shear testing
119.
small-scale fire testing
120.
software testing
121.
software-in-the-loop (SIL) testing
122.
stand-alone testing
123.
stress-testing
124.
substation testing methods
125.
system testing
126.
tensile testing
127.
testing
128.
testing methods
129.
testing of digital devices
130.
testing of generator
131.
testing of phasor measurement units
132.
two-dimensional array testing
133.
ultrasonic testing
134.
wafer testing
135.
wear testing
136.
vibration testing
137.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT