Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
double-pulse test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/210)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Experimental evaluation of GaN gate injection transistors
Rabkowski, Jacek
;
Barlik, Roman
Przeglad elektrotechniczny = Electrical review
2015
/
p. 9-12 : ill
http://dx.doi.org/10.15199/48.2015.03.03
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
208
1.
double-pulse test
2.
double bootstrap DEA
3.
double bottom damage
4.
Double categories
5.
double category
6.
double diamond model
7.
double forged tungsten
8.
double ML
9.
double negation shift
10.
double positivity
11.
double power-law
12.
double pushout (DPO) rewriting
13.
double Q-learning
14.
double seam
15.
double sequence
16.
double sparsity
17.
double-cabled system
18.
double-frequency ripple
19.
double-layer capacitance
20.
double-pushout rewriting
21.
Double-stepped planing hull
22.
Double-well potential
23.
electric double-layer
24.
minimization by double reversal
25.
arterial pulse wave
26.
cardiac pulse
27.
cardiac pulse variability
28.
complementary pulse wave velocity
29.
differential pulse voltammetry
30.
hybrid pulse width modulation
31.
nerve pulse
32.
pulse
33.
pulse analysis
34.
pulse arrival time
35.
pulse control
36.
Pulse electrodeposition
37.
pulse features
38.
pulse inverters
39.
pulse measurements
40.
pulse propagation
41.
pulse rate
42.
pulse shaping
43.
pulse shaping filters
44.
pulse transformers
45.
pulse wave
46.
pulse wave analysis
47.
pulse wave velocity
48.
pulse waveform analysis
49.
pulse width modulated converters
50.
pulse width modulated inverters
51.
pulse width modulated power converters
52.
pulse width modulation
53.
pulse width modulation (PWM)
54.
pulse width modulation (PWM) inverters
55.
pulse width modulation converter
56.
pulse width modulation converters
57.
pulse width modulation inverters
58.
Pulse-Amplitude-Modulation (PAM)
59.
pulse-width modulation
60.
pulse-width modulation (PWM)
61.
pulse-width modulations
62.
rectangular pulse
63.
sinusoidal pulse width modulator (SPWM)
64.
space vector pulse width modulation
65.
space vector pulse width modulation (SVPWM)
66.
space vector pulse-width modulation
67.
accelerated shelf-life test
68.
adaptive test strategy generation
69.
antigen test
70.
Applications in Test Engineering
71.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
72.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
73.
automated test environment
74.
automated test pattern generation
75.
automatic test case generation
76.
automatic test pattern generation
77.
automatic test program generation
78.
Auvergne test-bed
79.
battery test
80.
behavioral test
81.
behaviour level test generation
82.
bending test
83.
bit-error rate test
84.
Board and System Test
85.
board test
86.
bounds test
87.
built-in self-test
88.
capillary condensation redistribution test
89.
chi-square test
90.
closed bottle test
91.
cognitive screening test
92.
compartment fire test
93.
compartment test
94.
cone penetration test (CPT)
95.
COVID-19 antigen test
96.
cutting test
97.
cybersecurity test bed
98.
DDR4 interconnect test
99.
design and test
100.
design-for-test
101.
deterministic test sequences
102.
diagnostic test
103.
digital test
104.
Digital test and testable design
105.
drawing test
106.
dry droplet antimicrobial test
107.
embedded test
108.
fan pressurisation test
109.
final test result prediction
110.
four-point bending test
111.
FPGA based test
112.
FPGA-Assisted Test
113.
FPGA-centric test
114.
functional self-test
115.
functional test generation
116.
Granger causality test
117.
hardness test
118.
Hierarchical Multi-level Test Generation
119.
high-level synthesis for test
120.
high-level test data generation
121.
highlevel test generation
122.
high-speed serial link test
123.
IEEE 9 bus test system
124.
implementation-independent test generation
125.
in situ tensile test in SEM
126.
industrial field test
127.
in-situ tensile test in SEM
128.
Johansen cointegration test
129.
Kolmogorov-Smirnov test
130.
load test
131.
logic built-in self-test
132.
Luria alternating series test
133.
Mann–Kendall test
134.
Mann-Kendall trend test
135.
memory interconnect test
136.
microprocessor test
137.
Model test
138.
multiplier test
139.
offline test generation
140.
orthogonal test
141.
package test analysis
142.
parallel design and test
143.
performance test
144.
piezocone penetration test (CPTu)
145.
Point Load Test index
146.
pressurisation test
147.
processor-centric board test
148.
progressive damage test
149.
provably correct test generation
150.
pseudo-exhaustive test
151.
purity test
152.
real-time room temperature test
153.
rolling thin film oven test
154.
rtioco-based timed test sequences
155.
seasonal Mann Kendall test
156.
seismic piezocone penetration test
157.
self-test
158.
self-test architectures
159.
sentence writing test
160.
serial sevens test
161.
ship towing test tank
162.
similar material simulation test
163.
small-scale fire test
164.
small‐scale test
165.
software based self-test
166.
software-based self-test
167.
software-based self-test (SBST)
168.
soil phosphorus (P) test
169.
standard test method
170.
static load test
171.
static-dynamic probing test (SDT)
172.
stress test
173.
system level test
174.
teaching design and test of systems
175.
tensile test
176.
tensile test
177.
test
178.
test and evaluation platform
179.
test automation
180.
test bench
181.
test coverage
182.
test driven development
183.
test driven modelling
184.
test embankment
185.
test equipment
186.
test generation
187.
test generation and fault diagnosis
188.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
189.
test groups
190.
test model design
191.
test optimization
192.
test packets
193.
test path synthesis
194.
test patterns
195.
test point insertion
196.
test program generation
197.
test reference year
198.
test replication
199.
test scenario description language
200.
test-bed
201.
test-chips
202.
test-house
203.
test-pattern
204.
test-suite reduction
205.
Three-point bending test
206.
unit root test
207.
usability platform test
208.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT