Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
double-pulse test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/209)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Experimental evaluation of GaN gate injection transistors
Rabkowski, Jacek
;
Barlik, Roman
Przeglad elektrotechniczny = Electrical review
2015
/
p. 9-12 : ill
http://dx.doi.org/10.15199/48.2015.03.03
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
207
1.
double-pulse test
2.
double bottom damage
3.
Double categories
4.
double category
5.
double diamond model
6.
double forged tungsten
7.
double ML
8.
double negation shift
9.
double positivity
10.
double power-law
11.
double pushout (DPO) rewriting
12.
double Q-learning
13.
double seam
14.
double sequence
15.
double sparsity
16.
double-cabled system
17.
double-frequency ripple
18.
double-layer capacitance
19.
double-pushout rewriting
20.
Double-stepped planing hull
21.
Double-well potential
22.
electric double-layer
23.
minimization by double reversal
24.
arterial pulse wave
25.
cardiac pulse
26.
cardiac pulse variability
27.
complementary pulse wave velocity
28.
differential pulse voltammetry
29.
hybrid pulse width modulation
30.
nerve pulse
31.
pulse
32.
pulse analysis
33.
pulse arrival time
34.
pulse control
35.
Pulse electrodeposition
36.
pulse features
37.
pulse inverters
38.
pulse measurements
39.
pulse propagation
40.
pulse rate
41.
pulse shaping
42.
pulse shaping filters
43.
pulse transformers
44.
pulse wave
45.
pulse wave analysis
46.
pulse wave velocity
47.
pulse waveform analysis
48.
pulse width modulated converters
49.
pulse width modulated inverters
50.
pulse width modulated power converters
51.
pulse width modulation
52.
pulse width modulation (PWM)
53.
pulse width modulation (PWM) inverters
54.
pulse width modulation converter
55.
pulse width modulation converters
56.
pulse width modulation inverters
57.
Pulse-Amplitude-Modulation (PAM)
58.
pulse-width modulation
59.
pulse-width modulation (PWM)
60.
pulse-width modulations
61.
rectangular pulse
62.
sinusoidal pulse width modulator (SPWM)
63.
space vector pulse width modulation
64.
space vector pulse width modulation (SVPWM)
65.
space vector pulse-width modulation
66.
accelerated shelf-life test
67.
adaptive test strategy generation
68.
antigen test
69.
Applications in Test Engineering
70.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
71.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
72.
automated test environment
73.
automated test pattern generation
74.
automatic test case generation
75.
automatic test pattern generation
76.
automatic test program generation
77.
Auvergne test-bed
78.
battery test
79.
behavioral test
80.
behaviour level test generation
81.
bending test
82.
bit-error rate test
83.
Board and System Test
84.
board test
85.
bounds test
86.
built-in self-test
87.
capillary condensation redistribution test
88.
chi-square test
89.
closed bottle test
90.
cognitive screening test
91.
compartment fire test
92.
compartment test
93.
cone penetration test (CPT)
94.
COVID-19 antigen test
95.
cutting test
96.
cybersecurity test bed
97.
DDR4 interconnect test
98.
design and test
99.
design-for-test
100.
deterministic test sequences
101.
diagnostic test
102.
digital test
103.
Digital test and testable design
104.
drawing test
105.
dry droplet antimicrobial test
106.
embedded test
107.
fan pressurisation test
108.
final test result prediction
109.
four-point bending test
110.
FPGA based test
111.
FPGA-Assisted Test
112.
FPGA-centric test
113.
functional self-test
114.
functional test generation
115.
Granger causality test
116.
hardness test
117.
Hierarchical Multi-level Test Generation
118.
high-level synthesis for test
119.
high-level test data generation
120.
highlevel test generation
121.
high-speed serial link test
122.
IEEE 9 bus test system
123.
implementation-independent test generation
124.
in situ tensile test in SEM
125.
industrial field test
126.
in-situ tensile test in SEM
127.
Johansen cointegration test
128.
Kolmogorov-Smirnov test
129.
load test
130.
logic built-in self-test
131.
Luria alternating series test
132.
Mann–Kendall test
133.
Mann-Kendall trend test
134.
memory interconnect test
135.
microprocessor test
136.
Model test
137.
multiplier test
138.
offline test generation
139.
orthogonal test
140.
package test analysis
141.
parallel design and test
142.
performance test
143.
piezocone penetration test (CPTu)
144.
Point Load Test index
145.
pressurisation test
146.
processor-centric board test
147.
progressive damage test
148.
provably correct test generation
149.
pseudo-exhaustive test
150.
purity test
151.
real-time room temperature test
152.
rolling thin film oven test
153.
rtioco-based timed test sequences
154.
seasonal Mann Kendall test
155.
seismic piezocone penetration test
156.
self-test
157.
self-test architectures
158.
sentence writing test
159.
serial sevens test
160.
ship towing test tank
161.
similar material simulation test
162.
small-scale fire test
163.
small‐scale test
164.
software based self-test
165.
software-based self-test
166.
software-based self-test (SBST)
167.
soil phosphorus (P) test
168.
standard test method
169.
static load test
170.
static-dynamic probing test (SDT)
171.
stress test
172.
system level test
173.
teaching design and test of systems
174.
tensile test
175.
tensile test
176.
test
177.
test and evaluation platform
178.
test automation
179.
test bench
180.
test coverage
181.
test driven development
182.
test driven modelling
183.
test embankment
184.
test equipment
185.
test generation
186.
test generation and fault diagnosis
187.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
188.
test groups
189.
test model design
190.
test optimization
191.
test packets
192.
test path synthesis
193.
test patterns
194.
test point insertion
195.
test program generation
196.
test reference year
197.
test replication
198.
test scenario description language
199.
test-bed
200.
test-chips
201.
test-house
202.
test-pattern
203.
test-suite reduction
204.
Three-point bending test
205.
unit root test
206.
usability platform test
207.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT