Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
FPGA-centric test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/173)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production
Odintsov, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Aleksejev, Igor
IEEE AUTOTESTCON 2017 : Schaumburg, USA, Sept 11-14, 2017 : proceedings
2017
/
p. 336-334 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2017.8080516
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
171
1.
FPGA-centric test
2.
processor-centric board test
3.
FPGA based test
4.
FPGA-Assisted Test
5.
citizen-centric
6.
data-centric construction
7.
data-centric systems
8.
firm (goods) centric
9.
human-centric design
10.
patient-centric care
11.
patient-centric systems
12.
processor-centric board
13.
user-centric public services
14.
value centric design
15.
value-centric business
16.
value-centric design
17.
value-centric model
18.
Field Programmable Gate Array (FPGA)
19.
Field-Programmable Gate Array (FPGA)
20.
field-programmable gate arrays (FPGA)
21.
FPGA
22.
FPGA (field-programmable gate array)
23.
FPGA based lab kit
24.
FPGA implementation
25.
FPGA redaction
26.
FPGA/PSoC design
27.
FPGA-based development boards
28.
FPGA-based prototyping
29.
FPGA-Embedded Instrument
30.
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
31.
recycled FPGA detection
32.
SoC FPGA
33.
accelerated shelf-life test
34.
adaptive test strategy generation
35.
antigen test
36.
Applications in Test Engineering
37.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
38.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
39.
automated test environment
40.
automated test pattern generation
41.
automatic test case generation
42.
automatic test pattern generation
43.
automatic test program generation
44.
Auvergne test-bed
45.
battery test
46.
behavioral test
47.
behaviour level test generation
48.
bending test
49.
bit-error rate test
50.
Board and System Test
51.
board test
52.
bounds test
53.
built-in self-test
54.
capillary condensation redistribution test
55.
chi-square test
56.
closed bottle test
57.
cognitive screening test
58.
compartment fire test
59.
compartment test
60.
cone penetration test (CPT)
61.
COVID-19 antigen test
62.
cutting test
63.
cybersecurity test bed
64.
DDR4 interconnect test
65.
design and test
66.
design-for-test
67.
deterministic test sequences
68.
diagnostic test
69.
digital test
70.
Digital test and testable design
71.
double-pulse test
72.
drawing test
73.
dry droplet antimicrobial test
74.
embedded test
75.
fan pressurisation test
76.
final test result prediction
77.
four-point bending test
78.
functional self-test
79.
functional test generation
80.
Granger causality test
81.
hardness test
82.
Hierarchical Multi-level Test Generation
83.
high-level synthesis for test
84.
high-level test data generation
85.
highlevel test generation
86.
high-speed serial link test
87.
IEEE 9 bus test system
88.
implementation-independent test generation
89.
in situ tensile test in SEM
90.
industrial field test
91.
in-situ tensile test in SEM
92.
Johansen cointegration test
93.
Kolmogorov-Smirnov test
94.
load test
95.
logic built-in self-test
96.
Luria alternating series test
97.
Mann–Kendall test
98.
Mann-Kendall trend test
99.
memory interconnect test
100.
microprocessor test
101.
Model test
102.
multiplier test
103.
offline test generation
104.
orthogonal test
105.
package test analysis
106.
parallel design and test
107.
performance test
108.
piezocone penetration test (CPTu)
109.
Point Load Test index
110.
pressurisation test
111.
progressive damage test
112.
provably correct test generation
113.
pseudo-exhaustive test
114.
purity test
115.
real-time room temperature test
116.
rolling thin film oven test
117.
rtioco-based timed test sequences
118.
seasonal Mann Kendall test
119.
seismic piezocone penetration test
120.
self-test
121.
self-test architectures
122.
sentence writing test
123.
serial sevens test
124.
ship towing test tank
125.
similar material simulation test
126.
small-scale fire test
127.
small‐scale test
128.
software based self-test
129.
software-based self-test
130.
software-based self-test (SBST)
131.
soil phosphorus (P) test
132.
standard test method
133.
static load test
134.
static-dynamic probing test (SDT)
135.
stress test
136.
system level test
137.
teaching design and test of systems
138.
tensile test
139.
tensile test
140.
test
141.
test and evaluation platform
142.
test automation
143.
test bench
144.
test coverage
145.
test driven development
146.
test driven modelling
147.
test embankment
148.
test equipment
149.
test generation
150.
test generation and fault diagnosis
151.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
152.
test groups
153.
test model design
154.
test optimization
155.
test packets
156.
test path synthesis
157.
test patterns
158.
test point insertion
159.
test program generation
160.
test reference year
161.
test replication
162.
test scenario description language
163.
test-bed
164.
test-chips
165.
test-house
166.
test-pattern
167.
test-suite reduction
168.
Three-point bending test
169.
unit root test
170.
usability platform test
171.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT