Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Handbook of testing electronic systems (allikas)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/85)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Defects, faults and fault models
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pleskacz, Witold A.
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 26-96 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Test generation techniques and algorithms
Ubar, Raimund-Johannes
;
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 99-173 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Testing tools
Jutman, Artur
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 361-365 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Testing tools
Raik, Jaan
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 373-378 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
85
1.
courses on electronic testing and design
2.
Electronic Document and Records Management Systems (EDRMS)
3.
electronic payment systems
4.
nano-electronic systems design
5.
handbook
6.
MIL-HDBK-217F handbook
7.
accelerated testing
8.
acoustomechanical testing
9.
anaerobic testing
10.
aspect-oriented testing
11.
at-speed testing
12.
benchmark testing
13.
Berridge testing
14.
burst testing
15.
cancer genomic testing
16.
compliance testing
17.
compositional testing
18.
computer aided testing
19.
conformance testing
20.
cybersecurity testing
21.
D. non-destructive testing
22.
deformation testing
23.
design field testing
24.
destructive testing
25.
eddy current testing
26.
eddy current testing (ECT)
27.
erosion testing
28.
fatigue testing
29.
fire testing
30.
hierarchical testing
31.
hypotheses testing
32.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
33.
integration testing
34.
laboratory scale testing
35.
load testing
36.
macro mechanical testing and green surface tribology
37.
material testing
38.
materials testing
39.
measurement and testing
40.
mechanical testing
41.
memory testing
42.
metamorphic testing
43.
microprocessor testing
44.
model based testing
45.
model-based mutation testing
46.
model-based testing
47.
mutation testing
48.
network-testing
49.
non destructive testing
50.
nondestructive testing
51.
non-destructive testing
52.
on-site testing
53.
pin on disc wear testing
54.
PMU calibration testing
55.
PMU testing
56.
point-of-care testing
57.
processor core testing
58.
processor testing
59.
real-time HiL testing
60.
regression testing
61.
RISC processor testing
62.
robustness testing
63.
safety and security testing
64.
scenario testing
65.
scratch testing
66.
security testing
67.
small-scale fire testing
68.
software testing
69.
software-in-the-loop (SIL) testing
70.
stand-alone testing
71.
stress-testing
72.
substation testing methods
73.
system testing
74.
tensile testing
75.
testing
76.
testing methods
77.
testing of digital devices
78.
testing of generator
79.
testing of phasor measurement units
80.
two-dimensional array testing
81.
ultrasonic testing
82.
wafer testing
83.
wear testing
84.
vibration testing
85.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT