Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Handbook of testing electronic systems (allikas)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/95)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Defects, faults and fault models
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pleskacz, Witold A.
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 26-96 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Test generation techniques and algorithms
Ubar, Raimund-Johannes
;
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 99-173 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Testing tools
Jutman, Artur
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 361-365 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Testing tools
Raik, Jaan
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 373-378 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
95
1.
courses on electronic testing and design
2.
Electronic Document and Records Management Systems (EDRMS)
3.
electronic payment systems
4.
nano-electronic systems design
5.
handbook
6.
MIL-HDBK-217F handbook
7.
accelerated testing
8.
acoustomechanical testing
9.
anaerobic testing
10.
aspect-oriented testing
11.
assessment and testing
12.
at-speed testing
13.
benchmark testing
14.
Berridge testing
15.
burst testing
16.
cancer genomic testing
17.
circuit testing
18.
compliance testing
19.
compositional testing
20.
computer aided testing
21.
cone heater testing
22.
conformance testing
23.
cybersecurity testing
24.
D. non-destructive testing
25.
deformation testing
26.
design field testing
27.
destructive testing
28.
eddy current testing
29.
eddy current testing (ECT)
30.
erosion testing
31.
fabric testing
32.
fatigue testing
33.
fire testing
34.
hierarchical testing
35.
hypotheses testing
36.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
37.
integration testing
38.
laboratory scale testing
39.
load testing
40.
macro mechanical testing and green surface tribology
41.
material testing
42.
materials testing
43.
measurement and testing
44.
mechanical testing
45.
memory testing
46.
metamorphic testing
47.
microprocessor testing
48.
model based testing
49.
model-based mutation testing
50.
model-based testing
51.
multi-scenario testing
52.
mutation testing
53.
network-testing
54.
non destructive testing
55.
nondestructive testing
56.
non-destructive testing
57.
non-destructive testing (NDT)
58.
On-site drug testing
59.
on-site testing
60.
pin on disc wear testing
61.
PMU calibration testing
62.
PMU testing
63.
point-of-care testing
64.
processor core testing
65.
processor testing
66.
real-time HiL testing
67.
regression testing
68.
RISC processor testing
69.
robustness testing
70.
safety and security testing
71.
scenario testing
72.
Scenario-Based Testing
73.
scratch testing
74.
security testing
75.
shear testing
76.
small-scale fire testing
77.
software testing
78.
software-in-the-loop (SIL) testing
79.
stand-alone testing
80.
stress-testing
81.
substation testing methods
82.
system testing
83.
tensile testing
84.
testing
85.
testing methods
86.
testing of digital devices
87.
testing of generator
88.
testing of phasor measurement units
89.
two-dimensional array testing
90.
ultrasonic testing
91.
wafer testing
92.
wear testing
93.
well testing
94.
vibration testing
95.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT