Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/82)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Indus, Viljar
;
Kalmend, Oliver
Proceedings of the IASTED International Conference on Engineering and Applied Science : December 27-29, 2012, Columbo, Sri Lanka
2012
/
p. 168-172 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
82
1.
processor testing
2.
RISC processor testing
3.
processor core testing
4.
microprocessor testing
5.
crypto processor
6.
digital signal processor (DSP)
7.
multicore processor
8.
multi-processor
9.
multi-processor system-on-chip
10.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
11.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
12.
processor designs
13.
processor-centric board
14.
processor-centric board test
15.
accelerated testing
16.
acoustomechanical testing
17.
anaerobic testing
18.
aspect-oriented testing
19.
at-speed testing
20.
benchmark testing
21.
Berridge testing
22.
cancer genomic testing
23.
compliance testing
24.
compositional testing
25.
computer aided testing
26.
conformance testing
27.
courses on electronic testing and design
28.
cybersecurity testing
29.
D. non-destructive testing
30.
design field testing
31.
eddy current testing
32.
erosion testing
33.
fatigue testing
34.
fire testing
35.
hierarchical testing
36.
hypotheses testing
37.
integration testing
38.
laboratory scale testing
39.
load testing
40.
macro mechanical testing and green surface tribology
41.
material testing
42.
measurement and testing
43.
mechanical testing
44.
memory testing
45.
metamorphic testing
46.
model based testing
47.
model-based mutation testing
48.
model-based testing
49.
mutation testing
50.
network-testing
51.
non destructive testing
52.
nondestructive testing
53.
non-destructive testing
54.
on-site testing
55.
pin on disc wear testing
56.
PMU calibration testing
57.
PMU testing
58.
point-of-care testing
59.
real-time HiL testing
60.
regression testing
61.
robustness testing
62.
scenario testing
63.
scratch testing
64.
security testing
65.
small-scale fire testing
66.
software testing
67.
software-in-the-loop (SIL) testing
68.
stand-alone testing
69.
stress-testing
70.
substation testing methods
71.
system testing
72.
tensile testing
73.
testing
74.
testing methods
75.
testing of digital devices
76.
testing of generator
77.
testing of phasor measurement units
78.
two-dimensional array testing
79.
wafer testing
80.
wear testing
81.
vibration testing
82.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT