prindi

True path tracing in structurally synthesized BDDs for testability analysis of digital circuits

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jürimägi, Lembit
Oyeniran, Adeboye Stephen
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Adeniyi Olanrewaju Adekoya, Maksim Jenihhin
allikas
Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2019 : 28 - 30 August 2019 Kallithea, Chalkidiki, Greece : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 492-499 : ill
konverentsi nimetus, aeg
22nd Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2019, 28 - 30 August 2019
konverentsi toimumispaik
Kallithea, Chalkidiki, Greece
leitav
https://doi.org/10.1109/DSD.2019.00077
märksõna
digitaalintegraallülitused
digitaaltehnika
otsustusdiagrammid
võtmesõna
combinational circuits
signal probabilities
controllability
testability
fault redundancy
structurally synthesized BDDs
ISBN
978-1-7281-2861-0
978-1-7281-2863-4
märkused
Bibliogr.: 25 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Ubar, R., Jürimägi, L., Oyeniran, A. S., Jenihhin, M. True path tracing in structurally synthesized BDDs for testability analysis of digital circuits // Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2019 : 28 - 30 August 2019 Kallithea, Chalkidiki, Greece : proceedings. Danvers : IEEE, 2019. p. 492-499 : ill. https://doi.org/10.1109/DSD.2019.00077