Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
high-level fault coverage (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/109)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On test generation for microprocessors for extended class of functional faults
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
2020
/
p. 21-44
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
109
1.
high-level fault coverage
2.
high-level control fault model
3.
high-level fault model
4.
high-level fault simulation
5.
high-level functional fault model
6.
fault coverage
7.
logic level and high level BDDs
8.
low-level fault redundancy
9.
high level DD (HLDD)
10.
high level synthesis
11.
high-level control faults
12.
high-level decision diagram
13.
high-level decision diagrams
14.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
15.
high-level expert group on AI
16.
High-Level Synthesis (HLS)
17.
high-level synthesis for test
18.
high-level test data generation
19.
High-Pressure High-Temperature Spark Plasma Sintering
20.
code coverage
21.
code-coverage
22.
conceptual coverage
23.
coverage
24.
coverage factor
25.
diagnostic coverage
26.
gaps in coverage
27.
insurance coverage
28.
NB-IoT coverage
29.
Security Coverage
30.
stress coverage
31.
test coverage
32.
5G coverage
33.
asynchronous fault detection
34.
automatic fault diagnosis
35.
bearing fault diagnosis
36.
bi-directional fault monitoring devices
37.
conditional fault collapsing
38.
control fault models
39.
critical path fault tracing
40.
cross-layer fault tolerance
41.
cross-layered fault management
42.
extended fault class
43.
fault currents
44.
fault analysis
45.
fault analysis model
46.
fault classification
47.
fault classification
48.
fault collapsing
49.
fault compensation
50.
fault current and voltage measurements
51.
Fault current limite
52.
fault detection
53.
fault detection and diagnoses
54.
fault detection and diagnosis
55.
fault diagnosis
56.
fault diagnostic
57.
fault diagnostic resolution
58.
fault diagnostics
59.
fault dignosis
60.
fault effects
61.
fault equivalence and dominance
62.
fault handling
63.
fault handling strategy
64.
fault indicator
65.
fault injection
66.
Fault Injection Simulation
67.
fault Interruption
68.
fault localization
69.
fault management
70.
fault masking
71.
fault modeling
72.
fault models
73.
fault monitoring
74.
fault prediction
75.
fault protection
76.
fault redundancy
77.
fault resilience
78.
fault ride through
79.
Fault ride through enhancement
80.
fault signal
81.
fault simulastion
82.
fault simulation
83.
fault simulation with critical path tracing
84.
fault tolerance
85.
fault tolerant
86.
fault tolerant control
87.
fault tolerant operation
88.
fault tolerant router design
89.
fault tolerant systems
90.
Fault Tree Analysis
91.
fault-injection attack
92.
fault-plane solution
93.
fault-resilience
94.
fault-resistant
95.
fault-ride-through (FRT)
96.
fault-tolerance
97.
fault-tolerant
98.
Fault-tolerant (FT) converters
99.
fault-tolerant control
100.
fault-tolerant converter
101.
functional fault model
102.
Katun fault
103.
no fault found
104.
No-Fault-Found
105.
parallel fault-simulation
106.
stuck-at fault model
107.
test generation and fault diagnosis
108.
transient fault mitigation
109.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT