Ubar, R., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J., Jürimägi, L.

prindi

Fast identification of true critical paths in sequential circuits

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Kostin, Sergei

Jenihhin, Maksim

Raik, Jaan

Jürimägi, Lembit

vastutusandmed

Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Lembit Jürimägi

allikas

Microelectronics reliability

kirjastus/väljaandja

Elsevier Ltd

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 81

ilmumisaasta

2018

leheküljed

p. 252-261 : ill

leitav

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027

märksõna

elektronlülitused

rikked

testimine

võtmesõna

timing-critical path

gate-level analysis

NBTI

ISSN

0026-2714

märkused

Bibliogr.: 24 ref

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

Scopus

Journal metrics at Scopus

Article at Scopus

WOS

Journal metrics at WOS

Article at WOS

kategooria (üld)

Tehnika

Füüsika ja astronoomia

Materjaliteadus

kategooria (alam)

Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet

Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika

Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika

Materjaliteadus. Pinnad, kattted ja kiled

Füüsika ja astronoomia. Aatomi- ja molekulaarfüüsika ning optika

Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid

kvartiil

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Ubar, R., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J., Jürimägi, L. Fast identification of true critical paths in sequential circuits // Microelectronics reliability (2018) vol. 81, p. 252-261 : ill. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027