Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Liitotsing
Valitud kirjed
0
RISC processor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Lihtotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/86)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level functional test generation for microprocessor modules
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of 26th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2019 : Rzeszów, Poland, June 27 - 29, 2019
2019
/
p. 356-361 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2019.8787131
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
86
1.
RISC processor testing
2.
processor core testing
3.
processor testing
4.
RISC processors
5.
RISC-V
6.
RISC-V Security Verification
7.
crypto processor
8.
digital signal processor (DSP)
9.
multicore processor
10.
multi-processor
11.
multi-processor system-on-chip
12.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
13.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
14.
processor designs
15.
processor-centric board
16.
processor-centric board test
17.
accelerated testing
18.
acoustomechanical testing
19.
anaerobic testing
20.
aspect-oriented testing
21.
at-speed testing
22.
benchmark testing
23.
Berridge testing
24.
cancer genomic testing
25.
compliance testing
26.
compositional testing
27.
computer aided testing
28.
conformance testing
29.
courses on electronic testing and design
30.
cybersecurity testing
31.
D. non-destructive testing
32.
design field testing
33.
eddy current testing
34.
erosion testing
35.
fatigue testing
36.
fire testing
37.
hierarchical testing
38.
hypotheses testing
39.
integration testing
40.
laboratory scale testing
41.
load testing
42.
macro mechanical testing and green surface tribology
43.
material testing
44.
materials testing
45.
measurement and testing
46.
mechanical testing
47.
memory testing
48.
metamorphic testing
49.
microprocessor testing
50.
model based testing
51.
model-based mutation testing
52.
model-based testing
53.
mutation testing
54.
network-testing
55.
non destructive testing
56.
nondestructive testing
57.
non-destructive testing
58.
on-site testing
59.
pin on disc wear testing
60.
PMU calibration testing
61.
PMU testing
62.
point-of-care testing
63.
real-time HiL testing
64.
regression testing
65.
robustness testing
66.
scenario testing
67.
scratch testing
68.
security testing
69.
small-scale fire testing
70.
software testing
71.
software-in-the-loop (SIL) testing
72.
stand-alone testing
73.
stress-testing
74.
substation testing methods
75.
system testing
76.
tensile testing
77.
testing
78.
testing methods
79.
testing of digital devices
80.
testing of generator
81.
testing of phasor measurement units
82.
two-dimensional array testing
83.
wafer testing
84.
wear testing
85.
vibration testing
86.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT