Ubar, R., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J.

prindi

A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Kostin, Sergei

Jenihhin, Maksim

Raik, Jaan

vastutusandmed

Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik

allikas

Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany

ilmumiskoht

Piscataway

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2017

leheküljed

p. 152-157 : ill

konverentsi nimetus, aeg

20th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 19-21, 2017

konverentsi toimumispaik

Dresden, Germany

leitav

https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553

märksõna

rikked

testimine

elektronlülitused

vormimärksõna

konverentsikogumikud

võtmesõna

timing-critical path

gate-level analysis

NBTI

ISSN

2473-2117

ISBN

978-1-5386-0471-7

märkused

Bibliogr.: 21 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Ubar, R., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J. A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits // Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany. Piscataway : IEEE, 2017. p. 152-157 : ill. https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553