Ubar, R., Raik, J., Jutman, A., Jenihhin, M.

täiskirje prindi

Diagnostic modeling of digital systems with multi-level decision diagrams

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

Jutman, Artur

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Raimund Ubar, Jaan Raik, Artur Jutman, Maksim Jenihhin

allikas

Design and test technology for dependable systems-on-chip

ilmumiskoht

Hershey

kirjastus/väljaandja

Information Science Reference

ilmumisaasta

2011

leheküljed

p. 92-118 : ill

leitav

ISBN

978-1-60960-212-3

märkused

Bibliogr. p. 115-118

keel

inglise

märksõna

digitaaltehnika

rikked

vead

diagnostika (tehnika)

modelleerimine (teadus)

simulatsioon

testimine

otsustusdiagrammid

Ubar, R., Raik, J., Jutman, A., Jenihhin, M. Diagnostic modeling of digital systems with multi-level decision diagrams // Design and test technology for dependable systems-on-chip. Hershey : Information Science Reference, 2011. p. 92-118 : ill. https://www.researchgate.net/publication/344994231_Diagnostic_Modeling_of_Digital_Systems_with_Multi-Level_Decision_Diagrams