Vain, J., Kaur, A., Tsiopoulus, L., Raik, J., Jenihhin, M.

täiskirje prindi

Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource]

autor

Vain, Jüri

Apneet Kaur

Tsiopoulos, Leonidas

Raik, Jaan

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Juri Vain, Apneet Kaur, Leonidas Tsiopoulos, Jaan Raik, Maksim Jenihhin

allikas

BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2018

leheküljed

4 p.: ill

konverentsi nimetus, aeg

16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), October 8-10, 2018

konverentsi toimumispaik

Tallinn, Estonia

leitav

https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986

ISSN

1736-3705

ISBN

978-1-5386-7313-3

märkused

Bibliogr.: 10 ref

TTÜ struktuuriüksus

tarkvarateaduse instituut

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

kiipvõrgud

testimine

programmeerimiskeeled

tarkvaraarendus

võtmesõna

network-on-chip

model-checking

UPPAAL timed automata

design aspects

Design-by-Contract

Uurimisrühm

Küberkriminalistika ja küberjulgeoleku keskus

Merenduse küberjulgeoleku keskus

Tugevalt tagatud tarkvara laboratoorium

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Vain, J., Kaur, A., Tsiopoulus, L., Raik, J., Jenihhin, M. Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource] // BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018. : IEEE, 2018. 4 p.: ill. https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986