prindi

Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource]

autor
Vain, Jüri
Apneet Kaur
Tsiopoulos, Leonidas
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Juri Vain, Apneet Kaur, Leonidas Tsiopoulos, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
allikas
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2018
leheküljed
4 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg
16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), October 8-10, 2018
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986
märksõna
kiipvõrgud
testimine
programmeerimiskeeled
tarkvaraarendus
võtmesõna
network-on-chip
model-checking
UPPAAL timed automata
design aspects
Design-by-Contract
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-5386-7313-3
märkused
Bibliogr.: 10 ref
TTÜ struktuuriüksus
tarkvarateaduse instituut
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Küberkriminalistika ja küberjulgeoleku keskus
Merenduse küberjulgeoleku keskus
Tugevalt tagatud tarkvara laboratoorium
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Vain, J., Kaur, A., Tsiopoulus, L., Raik, J., Jenihhin, M. Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource] // BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018. : IEEE, 2018. 4 p.: ill. https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986