Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault coverage (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/111)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Extended checkers for control part of routers in network-on-chips
Hariharan, Ranganathan
;
Niazmand, Behrad
;
Hollstein, Thomas
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France
2015
/
p. 36-39 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Gate-level graph representation learning : a step towards the improved stuck-at faults analysis
Balakrishnan, Aneesh
;
Alexandrescu, Dan
;
Jenihhin, Maksim
;
Lange, Thomas
;
Glorieux, Maximilien
Proceedings of the Twenty Second International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) : Santa Clara, USA, 7-9 April 2021
2021
/
p. 24-30
https://doi.org/10.1109/ISQED51717.2021.9424256
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
3
artikkel kogumikus
A hierarchical approach for devising area efficient concurrent online checkers
Niazmand, Behrad
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ghasempouri, Tara
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
Proceedings 2nd IEEE International Test Conference in Asia : ITC-Asia 2018, 15-17 August 2018, Harbin, China
2018
/
p. 139-144 : ill
https://doi.org/10.1109/ITC-Asia.2018.00034
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
111
1.
fault coverage
2.
high-level fault coverage
3.
code coverage
4.
code-coverage
5.
conceptual coverage
6.
coverage
7.
coverage factor
8.
diagnostic coverage
9.
gaps in coverage
10.
insurance coverage
11.
NB-IoT coverage
12.
Security Coverage
13.
stress coverage
14.
test coverage
15.
5G coverage
16.
AI-based fault detection
17.
asynchronous fault detection
18.
automatic fault diagnosis
19.
bearing fault diagnosis
20.
bi-directional fault monitoring devices
21.
conditional fault collapsing
22.
control fault models
23.
critical path fault tracing
24.
cross-layer fault tolerance
25.
cross-layered fault management
26.
extended fault class
27.
fault currents
28.
fault analysis
29.
fault analysis model
30.
fault classification
31.
fault classification
32.
fault collapsing
33.
fault compensation
34.
fault current and voltage measurements
35.
Fault current limite
36.
fault current limiter
37.
fault detection
38.
fault detection and classification
39.
fault detection and diagnoses
40.
fault detection and diagnosis
41.
fault detection and diagnostics (FDD)
42.
fault diagnosis
43.
fault diagnostic
44.
fault diagnostic resolution
45.
fault diagnostics
46.
fault dignosis
47.
fault effects
48.
fault emulation
49.
fault equivalence and dominance
50.
fault handling
51.
fault handling strategy
52.
fault indicator
53.
fault injection
54.
Fault Injection Simulation
55.
fault Interruption
56.
fault localization
57.
fault location
58.
fault management
59.
fault masking
60.
fault modeling
61.
fault models
62.
fault monitoring
63.
fault prediction
64.
fault protection
65.
fault redundancy
66.
fault resilience
67.
fault ride through
68.
Fault ride through enhancement
69.
fault signal
70.
fault simulastion
71.
fault simulation
72.
fault simulation with critical path tracing
73.
fault tolerance
74.
fault tolerant
75.
fault tolerant control
76.
fault tolerant operation
77.
fault tolerant router design
78.
fault tolerant systems
79.
fault tree analysis
80.
fault-injection attack
81.
fault-plane solution
82.
fault-resilience
83.
fault-resistant
84.
fault-ride-through (FRT)
85.
fault-tolerance
86.
fault-tolerant
87.
Fault-tolerant (FT) converters
88.
fault-tolerant control
89.
fault-tolerant converter
90.
functional fault model
91.
high-level control fault model
92.
high-level fault model
93.
high-level fault simulation
94.
high-level functional fault model
95.
hybrid fault detection
96.
Katun fault
97.
low-level fault redundancy
98.
no fault found
99.
No-Fault-Found
100.
open circuit fault
101.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
102.
parallel fault-simulation
103.
photovoltaic fault detection algorithms
104.
PV fault classification
105.
short circuit fault
106.
spectrum-based fault localization
107.
stacking fault
108.
stuck-at fault model
109.
test generation and fault diagnosis
110.
transient fault mitigation
111.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT