Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault effects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/126)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Fault-aware performance assessment approach for embedded networks
Malburg, Jan
;
Janson, Karl
;
Raik, Jaan
;
Dannemann, Frank
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724670
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
126
1.
fault effects
2.
asynchronous fault detection
3.
automatic fault diagnosis
4.
bearing fault diagnosis
5.
bi-directional fault monitoring devices
6.
conditional fault collapsing
7.
control fault models
8.
critical path fault tracing
9.
cross-layer fault tolerance
10.
cross-layered fault management
11.
extended fault class
12.
fault currents
13.
fault analysis
14.
fault analysis model
15.
fault classification
16.
fault classification
17.
fault collapsing
18.
fault compensation
19.
fault coverage
20.
fault current and voltage measurements
21.
Fault current limite
22.
fault current limiter
23.
fault detection
24.
fault detection and diagnoses
25.
fault detection and diagnosis
26.
fault diagnosis
27.
fault diagnostic
28.
fault diagnostic resolution
29.
fault diagnostics
30.
fault dignosis
31.
fault emulation
32.
fault equivalence and dominance
33.
fault handling
34.
fault handling strategy
35.
fault indicator
36.
fault injection
37.
Fault Injection Simulation
38.
fault Interruption
39.
fault localization
40.
fault management
41.
fault masking
42.
fault modeling
43.
fault models
44.
fault monitoring
45.
fault prediction
46.
fault protection
47.
fault redundancy
48.
fault resilience
49.
fault ride through
50.
Fault ride through enhancement
51.
fault signal
52.
fault simulastion
53.
fault simulation
54.
fault simulation with critical path tracing
55.
fault tolerance
56.
fault tolerant
57.
fault tolerant control
58.
fault tolerant operation
59.
fault tolerant router design
60.
fault tolerant systems
61.
Fault Tree Analysis
62.
fault-injection attack
63.
fault-plane solution
64.
fault-resilience
65.
fault-resistant
66.
fault-ride-through (FRT)
67.
fault-tolerance
68.
fault-tolerant
69.
Fault-tolerant (FT) converters
70.
fault-tolerant control
71.
fault-tolerant converter
72.
functional fault model
73.
high-level control fault model
74.
high-level fault coverage
75.
high-level fault model
76.
high-level fault simulation
77.
high-level functional fault model
78.
Katun fault
79.
low-level fault redundancy
80.
no fault found
81.
No-Fault-Found
82.
open circuit fault
83.
parallel fault-simulation
84.
short circuit fault
85.
stuck-at fault model
86.
test generation and fault diagnosis
87.
transient fault mitigation
88.
transmission lines fault
89.
algebraic effects
90.
biological effects
91.
causal effects
92.
climate changes effects
93.
combinatorial effects
94.
Computational effects
95.
cumulative effects assessment
96.
economic and social effects
97.
effects
98.
electoral effects
99.
EMF effects
100.
environmental effects
101.
EU Horizon 2020 research project GRACE (Integrated oil spill response actions and environmental effects)
102.
fiscal and economic effects
103.
gender effects
104.
group effects
105.
health effects
106.
hierarchy-of-effects (HOE)
107.
horizontal effects
108.
indirect effects
109.
interactive fixed effects
110.
layout-based effects
111.
magnetomechanical effects
112.
magneto-mechanical effects
113.
mechanical and thermal effects
114.
micellar effects
115.
multi-actor effects
116.
proximity effects
117.
radiation effects
118.
single event effects
119.
single-event effects
120.
solvent effects
121.
spillover effects
122.
spill-over effects
123.
substitution effects
124.
temperature effects
125.
thermal effects
126.
topographic effects
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT