Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault effects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/129)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Fault-aware performance assessment approach for embedded networks
Malburg, Jan
;
Janson, Karl
;
Raik, Jaan
;
Dannemann, Frank
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724670
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
129
1.
fault effects
2.
asynchronous fault detection
3.
automatic fault diagnosis
4.
bearing fault diagnosis
5.
bi-directional fault monitoring devices
6.
conditional fault collapsing
7.
control fault models
8.
critical path fault tracing
9.
cross-layer fault tolerance
10.
cross-layered fault management
11.
extended fault class
12.
fault currents
13.
fault analysis
14.
fault analysis model
15.
fault classification
16.
fault classification
17.
fault collapsing
18.
fault compensation
19.
fault coverage
20.
fault current and voltage measurements
21.
Fault current limite
22.
fault current limiter
23.
fault detection
24.
fault detection and diagnoses
25.
fault detection and diagnosis
26.
fault diagnosis
27.
fault diagnostic
28.
fault diagnostic resolution
29.
fault diagnostics
30.
fault dignosis
31.
fault emulation
32.
fault equivalence and dominance
33.
fault handling
34.
fault handling strategy
35.
fault indicator
36.
fault injection
37.
Fault Injection Simulation
38.
fault Interruption
39.
fault localization
40.
fault location
41.
fault management
42.
fault masking
43.
fault modeling
44.
fault models
45.
fault monitoring
46.
fault prediction
47.
fault protection
48.
fault redundancy
49.
fault resilience
50.
fault ride through
51.
Fault ride through enhancement
52.
fault signal
53.
fault simulastion
54.
fault simulation
55.
fault simulation with critical path tracing
56.
fault tolerance
57.
fault tolerant
58.
fault tolerant control
59.
fault tolerant operation
60.
fault tolerant router design
61.
fault tolerant systems
62.
Fault Tree Analysis
63.
fault-injection attack
64.
fault-plane solution
65.
fault-resilience
66.
fault-resistant
67.
fault-ride-through (FRT)
68.
fault-tolerance
69.
fault-tolerant
70.
Fault-tolerant (FT) converters
71.
fault-tolerant control
72.
fault-tolerant converter
73.
functional fault model
74.
high-level control fault model
75.
high-level fault coverage
76.
high-level fault model
77.
high-level fault simulation
78.
high-level functional fault model
79.
Katun fault
80.
low-level fault redundancy
81.
no fault found
82.
No-Fault-Found
83.
open circuit fault
84.
parallel fault-simulation
85.
short circuit fault
86.
spectrum-based fault localization
87.
stuck-at fault model
88.
test generation and fault diagnosis
89.
transient fault mitigation
90.
transmission lines fault
91.
algebraic effects
92.
biological effects
93.
bottom-up effects
94.
causal effects
95.
climate changes effects
96.
combinatorial effects
97.
Computational effects
98.
cumulative effects assessment
99.
economic and social effects
100.
effects
101.
electoral effects
102.
EMF effects
103.
environmental effects
104.
EU Horizon 2020 research project GRACE (Integrated oil spill response actions and environmental effects)
105.
fiscal and economic effects
106.
gender effects
107.
group effects
108.
health effects
109.
hierarchy-of-effects (HOE)
110.
horizontal effects
111.
indirect effects
112.
interactive fixed effects
113.
layout-based effects
114.
magnetomechanical effects
115.
magneto-mechanical effects
116.
mechanical and thermal effects
117.
micellar effects
118.
multi-actor effects
119.
proximity effects
120.
radiation effects
121.
single event effects
122.
single-event effects
123.
solvent effects
124.
spillover effects
125.
spill-over effects
126.
substitution effects
127.
temperature effects
128.
thermal effects
129.
topographic effects
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT