Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault effects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/144)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Fault-aware performance assessment approach for embedded networks
Malburg, Jan
;
Janson, Karl
;
Raik, Jaan
;
Dannemann, Frank
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724670
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
144
1.
fault effects
2.
AI-based fault detection
3.
asynchronous fault detection
4.
automatic fault diagnosis
5.
bearing fault diagnosis
6.
bi-directional fault monitoring devices
7.
conditional fault collapsing
8.
control fault models
9.
critical path fault tracing
10.
cross-layer fault tolerance
11.
cross-layered fault management
12.
extended fault class
13.
fault currents
14.
fault analysis
15.
fault analysis model
16.
fault classification
17.
fault classification
18.
fault collapsing
19.
fault compensation
20.
fault coverage
21.
fault current and voltage measurements
22.
Fault current limite
23.
fault current limiter
24.
fault detection
25.
fault detection and classification
26.
fault detection and diagnoses
27.
fault detection and diagnosis
28.
fault detection and diagnostics (FDD)
29.
fault diagnosis
30.
fault diagnostic
31.
fault diagnostic resolution
32.
fault diagnostics
33.
fault dignosis
34.
fault emulation
35.
fault equivalence and dominance
36.
fault handling
37.
fault handling strategy
38.
fault indicator
39.
fault injection
40.
Fault Injection Simulation
41.
fault Interruption
42.
fault localization
43.
fault location
44.
fault management
45.
fault masking
46.
fault modeling
47.
fault models
48.
fault monitoring
49.
fault prediction
50.
fault protection
51.
fault redundancy
52.
fault resilience
53.
fault ride through
54.
Fault ride through enhancement
55.
fault seeding
56.
fault signal
57.
fault simulastion
58.
fault simulation
59.
fault simulation with critical path tracing
60.
fault tolerance
61.
fault tolerant
62.
fault tolerant computer systems
63.
fault tolerant control
64.
fault tolerant operation
65.
fault tolerant router design
66.
fault tolerant systems
67.
fault tree analysis
68.
fault-injection attack
69.
fault-plane solution
70.
fault-resilience
71.
fault-resistant
72.
fault-ride-through (FRT)
73.
fault-tolerance
74.
fault-tolerant
75.
Fault-tolerant (FT) converters
76.
fault-tolerant control
77.
fault-tolerant converter
78.
functional fault model
79.
high-level control fault model
80.
high-level fault coverage
81.
high-level fault model
82.
high-level fault simulation
83.
high-level functional fault model
84.
hybrid fault detection
85.
Katun fault
86.
low-level fault redundancy
87.
no fault found
88.
No-Fault-Found
89.
open circuit fault
90.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
91.
parallel fault-simulation
92.
photovoltaic fault detection algorithms
93.
PV fault classification
94.
short circuit fault
95.
spectrum-based fault localization
96.
stacking fault
97.
stuck-at fault model
98.
test generation and fault diagnosis
99.
transient fault mitigation
100.
transmission lines fault
101.
algebraic effects
102.
anthropogenic effects
103.
biological effects
104.
bottom-up effects
105.
causal effects
106.
climate changes effects
107.
combinatorial effects
108.
Computational effects
109.
cumulative effects assessment
110.
Delay effects
111.
economic and social effects
112.
effects
113.
electoral effects
114.
electromechanical effects
115.
EMF effects
116.
environmental effects
117.
EU Horizon 2020 research project GRACE (Integrated oil spill response actions and environmental effects)
118.
fiscal and economic effects
119.
gender effects
120.
group effects
121.
health effects
122.
hierarchy-of-effects (HOE)
123.
horizontal effects
124.
indirect effects
125.
innovation effects
126.
interactive fixed effects
127.
layout-based effects
128.
magnetomechanical effects
129.
magneto-mechanical effects
130.
mechanical and thermal effects
131.
micellar effects
132.
multi-actor effects
133.
proximity effects
134.
radiation effects
135.
risk coupling effects
136.
single event effects
137.
single-event effects
138.
solvent effects
139.
spillover effects
140.
spill-over effects
141.
substitution effects
142.
temperature effects
143.
thermal effects
144.
topographic effects
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT