Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault masking (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/91)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
How to prove that a circuit is fault-free?
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings : 15th Euromicro Conference on Digital System Design DSD 2012 : 5-8 September 2012, Cesme, Izmir, Turkey
2012
/
p. 427-430 : ill
https://www.researchgate.net/publication/262271409_How_to_Prove_that_a_Circuit_is_Fault-Free
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Multiple control fault testing in digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 20th edition : 19th-21st May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/AQTR.2016.7501287
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Multiple stuck-at-fault detection theorem
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 236-241 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE
2013
/
p. 36-41 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
91
1.
fault masking
2.
auditory masking
3.
masking
4.
military masking colour
5.
asynchronous fault detection
6.
automatic fault diagnosis
7.
bearing fault diagnosis
8.
bi-directional fault monitoring devices
9.
conditional fault collapsing
10.
control fault models
11.
critical path fault tracing
12.
cross-layer fault tolerance
13.
cross-layered fault management
14.
extended fault class
15.
fault currents
16.
fault analysis
17.
fault analysis model
18.
fault classification
19.
fault classification
20.
fault collapsing
21.
fault compensation
22.
fault coverage
23.
fault current and voltage measurements
24.
Fault current limite
25.
fault current limiter
26.
fault detection
27.
fault detection and diagnoses
28.
fault detection and diagnosis
29.
fault diagnosis
30.
fault diagnostic
31.
fault diagnostic resolution
32.
fault diagnostics
33.
fault dignosis
34.
fault effects
35.
fault emulation
36.
fault equivalence and dominance
37.
fault handling
38.
fault handling strategy
39.
fault indicator
40.
fault injection
41.
Fault Injection Simulation
42.
fault Interruption
43.
fault localization
44.
fault management
45.
fault modeling
46.
fault models
47.
fault monitoring
48.
fault prediction
49.
fault protection
50.
fault redundancy
51.
fault resilience
52.
fault ride through
53.
Fault ride through enhancement
54.
fault signal
55.
fault simulastion
56.
fault simulation
57.
fault simulation with critical path tracing
58.
fault tolerance
59.
fault tolerant
60.
fault tolerant control
61.
fault tolerant operation
62.
fault tolerant router design
63.
fault tolerant systems
64.
Fault Tree Analysis
65.
fault-injection attack
66.
fault-plane solution
67.
fault-resilience
68.
fault-resistant
69.
fault-ride-through (FRT)
70.
fault-tolerance
71.
fault-tolerant
72.
Fault-tolerant (FT) converters
73.
fault-tolerant control
74.
fault-tolerant converter
75.
functional fault model
76.
high-level control fault model
77.
high-level fault coverage
78.
high-level fault model
79.
high-level fault simulation
80.
high-level functional fault model
81.
Katun fault
82.
low-level fault redundancy
83.
no fault found
84.
No-Fault-Found
85.
open circuit fault
86.
parallel fault-simulation
87.
short circuit fault
88.
stuck-at fault model
89.
test generation and fault diagnosis
90.
transient fault mitigation
91.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT