Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault masking (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/102)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
How to prove that a circuit is fault-free?
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings : 15th Euromicro Conference on Digital System Design DSD 2012 : 5-8 September 2012, Cesme, Izmir, Turkey
2012
/
p. 427-430 : ill
https://www.researchgate.net/publication/262271409_How_to_Prove_that_a_Circuit_is_Fault-Free
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Multiple control fault testing in digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 20th edition : 19th-21st May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/AQTR.2016.7501287
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Multiple stuck-at-fault detection theorem
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 236-241 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE
2013
/
p. 36-41 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
102
1.
fault masking
2.
Avoiding Mutual Masking of Multiple Faults
3.
auditory masking
4.
masking
5.
military masking colour
6.
AI-based fault detection
7.
asynchronous fault detection
8.
automatic fault diagnosis
9.
bearing fault diagnosis
10.
bi-directional fault monitoring devices
11.
conditional fault collapsing
12.
control fault models
13.
critical path fault tracing
14.
cross-layer fault tolerance
15.
cross-layered fault management
16.
extended fault class
17.
fault currents
18.
fault analysis
19.
fault analysis model
20.
fault classification
21.
fault classification
22.
fault collapsing
23.
fault compensation
24.
fault coverage
25.
fault current and voltage measurements
26.
Fault current limite
27.
fault current limiter
28.
fault detection
29.
fault detection and classification
30.
fault detection and diagnoses
31.
fault detection and diagnosis
32.
fault detection and diagnostics (FDD)
33.
fault diagnosis
34.
fault diagnostic
35.
fault diagnostic resolution
36.
fault diagnostics
37.
fault dignosis
38.
fault effects
39.
fault emulation
40.
fault equivalence and dominance
41.
fault handling
42.
fault handling strategy
43.
fault indicator
44.
fault injection
45.
Fault Injection Simulation
46.
fault Interruption
47.
fault localization
48.
fault location
49.
fault management
50.
fault modeling
51.
fault models
52.
fault monitoring
53.
fault prediction
54.
fault protection
55.
fault redundancy
56.
fault resilience
57.
fault ride through
58.
Fault ride through enhancement
59.
fault signal
60.
fault simulastion
61.
fault simulation
62.
fault simulation with critical path tracing
63.
fault tolerance
64.
fault tolerant
65.
fault tolerant control
66.
fault tolerant operation
67.
fault tolerant router design
68.
fault tolerant systems
69.
fault tree analysis
70.
fault-injection attack
71.
fault-plane solution
72.
fault-resilience
73.
fault-resistant
74.
fault-ride-through (FRT)
75.
fault-tolerance
76.
fault-tolerant
77.
Fault-tolerant (FT) converters
78.
fault-tolerant control
79.
fault-tolerant converter
80.
functional fault model
81.
high-level control fault model
82.
high-level fault coverage
83.
high-level fault model
84.
high-level fault simulation
85.
high-level functional fault model
86.
hybrid fault detection
87.
Katun fault
88.
low-level fault redundancy
89.
no fault found
90.
No-Fault-Found
91.
open circuit fault
92.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
93.
parallel fault-simulation
94.
photovoltaic fault detection algorithms
95.
PV fault classification
96.
short circuit fault
97.
spectrum-based fault localization
98.
stacking fault
99.
stuck-at fault model
100.
test generation and fault diagnosis
101.
transient fault mitigation
102.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT