Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault injection (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
11
Vaata veel..
(1/99)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(11)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
2019
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Automated identification of application-dependent safe faults in automotive systems-on-a-chips
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Augusto da Silva, Felipe
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Jenihhin, Maksim
;
Sauer, Christian
Electronics
2022
/
art. 319
https://doi.org/10.3390/electronics11030319
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
3
artikkel kogumikus
Combining fault analysis technologies for ISO26262 functional safety verification
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2019 IEEE 28th Asian Test Symposium (ATS) : 10–13 December 2019, Kolkata, India : proceedings
2019
/
p. 129–134 : ill
https://doi.org/10.1109/ATS47505.2019.00024
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
4
artikkel kogumikus
Determined-safe faults identification : a step towards ISO26262 hardware compliant designs
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Sartoni, Sandro
;
Cantoro, Riccardo
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2020 25th IEEE European Test Symposium (ETS)
2020
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131568
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
5
artikkel kogumikus
Efficient fault injection based on dynamic HDL slicing technique
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 52-53 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854419
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
6
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement
Abideen, Zain Ul
;
Rashid, Muhammad Haroon
IEEE Access
2020
/
p. 207705-207716
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
7
artikkel kogumikus
Machine learning to tackle the challenges of transient and soft errors in complex circuits
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 7-14 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854423
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniques
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks - DSN 2019 : Supplemental Volume : proceedings
2019
/
p. 35-41 : ill
https://doi.org/10.1109/DSN-S.2019.00021
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
9
artikkel kogumikus
Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Sauer, Christian
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
2020
/
art. 19889351, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
10
artikkel ajakirjas
SALSy : security-aware layout synthesis
Eslami, Mohammad
;
Perez, Tiago Diadami
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
arXiv.org
2024
/
13 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2308.06201
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
On the use of defensive schemes for hardware security = Kaitseskeemid riistvara turvalisuse tagamiseks
11
artikkel kogumikus
Use of formal methods for verification and optimization of fault lists in the scope of ISO26262
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2018 Design and Verification Conference (DVCON) Europe : [proceedings]
2018
/
6 p. : ill
https://repository.tudelft.nl/islandora/object/uuid%3Adbd7f22d-0324-45f5-9180-8fe3fc95a9ce
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
Kirjeid leitud 11, kuvan
1 - 11
võtmesõna
99
1.
fault injection
2.
Fault Injection Simulation
3.
fault-injection attack
4.
false data injection attack
5.
False data injection attack; Machine learning; Matlab; Python; State estimation; Sudden load change
6.
fiber-reinforced composites and injection molding
7.
Gate Injection Transistor (GIT)
8.
gating-aware error injection
9.
ghost injection attack
10.
injection molding
11.
injection of technical water
12.
manual hydrodynamic injection
13.
reactive power injection
14.
zero injection phase
15.
asynchronous fault detection
16.
automatic fault diagnosis
17.
bearing fault diagnosis
18.
bi-directional fault monitoring devices
19.
conditional fault collapsing
20.
control fault models
21.
critical path fault tracing
22.
cross-layer fault tolerance
23.
cross-layered fault management
24.
extended fault class
25.
fault currents
26.
fault analysis
27.
fault analysis model
28.
fault classification
29.
fault classification
30.
fault collapsing
31.
fault compensation
32.
fault coverage
33.
fault current and voltage measurements
34.
Fault current limite
35.
fault current limiter
36.
fault detection
37.
fault detection and diagnoses
38.
fault detection and diagnosis
39.
fault diagnosis
40.
fault diagnostic
41.
fault diagnostic resolution
42.
fault diagnostics
43.
fault dignosis
44.
fault effects
45.
fault emulation
46.
fault equivalence and dominance
47.
fault handling
48.
fault handling strategy
49.
fault indicator
50.
fault Interruption
51.
fault localization
52.
fault management
53.
fault masking
54.
fault modeling
55.
fault models
56.
fault monitoring
57.
fault prediction
58.
fault protection
59.
fault redundancy
60.
fault resilience
61.
fault ride through
62.
Fault ride through enhancement
63.
fault signal
64.
fault simulastion
65.
fault simulation
66.
fault simulation with critical path tracing
67.
fault tolerance
68.
fault tolerant
69.
fault tolerant control
70.
fault tolerant operation
71.
fault tolerant router design
72.
fault tolerant systems
73.
Fault Tree Analysis
74.
fault-plane solution
75.
fault-resilience
76.
fault-resistant
77.
fault-ride-through (FRT)
78.
fault-tolerance
79.
fault-tolerant
80.
Fault-tolerant (FT) converters
81.
fault-tolerant control
82.
fault-tolerant converter
83.
functional fault model
84.
high-level control fault model
85.
high-level fault coverage
86.
high-level fault model
87.
high-level fault simulation
88.
high-level functional fault model
89.
Katun fault
90.
low-level fault redundancy
91.
no fault found
92.
No-Fault-Found
93.
open circuit fault
94.
parallel fault-simulation
95.
short circuit fault
96.
stuck-at fault model
97.
test generation and fault diagnosis
98.
transient fault mitigation
99.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT