Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault equivalence and dominance (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/100)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Josifovska, Galina
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
DSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal
2015
/
p. 700-705 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
100
1.
fault equivalence and dominance
2.
abuse of dominance
3.
collective dominance
4.
dominance
5.
dominance ratio
6.
national provision prohibiting abuses of dominance
7.
contextual equivalence
8.
equivalence ratio
9.
functional equivalence principle
10.
input-output equivalence transformations
11.
program equivalence
12.
state equivalence
13.
transfer equivalence
14.
asynchronous fault detection
15.
automatic fault diagnosis
16.
bearing fault diagnosis
17.
bi-directional fault monitoring devices
18.
conditional fault collapsing
19.
control fault models
20.
critical path fault tracing
21.
cross-layer fault tolerance
22.
cross-layered fault management
23.
extended fault class
24.
fault currents
25.
fault analysis
26.
fault analysis model
27.
fault classification
28.
fault classification
29.
fault collapsing
30.
fault compensation
31.
fault coverage
32.
fault current and voltage measurements
33.
Fault current limite
34.
fault current limiter
35.
fault detection
36.
fault detection and diagnoses
37.
fault detection and diagnosis
38.
fault diagnosis
39.
fault diagnostic
40.
fault diagnostic resolution
41.
fault diagnostics
42.
fault dignosis
43.
fault effects
44.
fault emulation
45.
fault handling
46.
fault handling strategy
47.
fault indicator
48.
fault injection
49.
Fault Injection Simulation
50.
fault Interruption
51.
fault localization
52.
fault management
53.
fault masking
54.
fault modeling
55.
fault models
56.
fault monitoring
57.
fault prediction
58.
fault protection
59.
fault redundancy
60.
fault resilience
61.
fault ride through
62.
Fault ride through enhancement
63.
fault signal
64.
fault simulastion
65.
fault simulation
66.
fault simulation with critical path tracing
67.
fault tolerance
68.
fault tolerant
69.
fault tolerant control
70.
fault tolerant operation
71.
fault tolerant router design
72.
fault tolerant systems
73.
Fault Tree Analysis
74.
fault-injection attack
75.
fault-plane solution
76.
fault-resilience
77.
fault-resistant
78.
fault-ride-through (FRT)
79.
fault-tolerance
80.
fault-tolerant
81.
Fault-tolerant (FT) converters
82.
fault-tolerant control
83.
fault-tolerant converter
84.
functional fault model
85.
high-level control fault model
86.
high-level fault coverage
87.
high-level fault model
88.
high-level fault simulation
89.
high-level functional fault model
90.
Katun fault
91.
low-level fault redundancy
92.
no fault found
93.
No-Fault-Found
94.
open circuit fault
95.
parallel fault-simulation
96.
short circuit fault
97.
stuck-at fault model
98.
test generation and fault diagnosis
99.
transient fault mitigation
100.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT