Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault coverage (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/97)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Extended checkers for control part of routers in network-on-chips
Hariharan, Ranganathan
;
Niazmand, Behrad
;
Hollstein, Thomas
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France
2015
/
p. 36-39 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Gate-level graph representation learning : a step towards the improved stuck-at faults analysis
Balakrishnan, Aneesh
;
Alexandrescu, Dan
;
Jenihhin, Maksim
;
Lange, Thomas
;
Glorieux, Maximilien
Proceedings of the Twenty Second International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) : Santa Clara, USA, 7-9 April 2021
2021
/
p. 24-30
https://doi.org/10.1109/ISQED51717.2021.9424256
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
3
artikkel kogumikus
A hierarchical approach for devising area efficient concurrent online checkers
Niazmand, Behrad
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ghasempouri, Tara
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
Proceedings 2nd IEEE International Test Conference in Asia : ITC-Asia 2018, 15-17 August 2018, Harbin, China
2018
/
p. 139-144 : ill
https://doi.org/10.1109/ITC-Asia.2018.00034
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
97
1.
fault coverage
2.
high-level fault coverage
3.
code coverage
4.
code-coverage
5.
conceptual coverage
6.
coverage
7.
coverage factor
8.
diagnostic coverage
9.
gaps in coverage
10.
insurance coverage
11.
NB-IoT coverage
12.
Security Coverage
13.
stress coverage
14.
test coverage
15.
5G coverage
16.
asynchronous fault detection
17.
automatic fault diagnosis
18.
bearing fault diagnosis
19.
bi-directional fault monitoring devices
20.
conditional fault collapsing
21.
control fault models
22.
critical path fault tracing
23.
cross-layer fault tolerance
24.
cross-layered fault management
25.
extended fault class
26.
fault currents
27.
fault analysis
28.
fault analysis model
29.
fault classification
30.
fault classification
31.
fault collapsing
32.
fault compensation
33.
fault current and voltage measurements
34.
Fault current limite
35.
fault detection
36.
fault detection and diagnoses
37.
fault detection and diagnosis
38.
fault diagnosis
39.
fault diagnostic
40.
fault diagnostic resolution
41.
fault diagnostics
42.
fault dignosis
43.
fault effects
44.
fault equivalence and dominance
45.
fault handling
46.
fault handling strategy
47.
fault indicator
48.
fault injection
49.
Fault Injection Simulation
50.
fault Interruption
51.
fault localization
52.
fault management
53.
fault masking
54.
fault modeling
55.
fault models
56.
fault monitoring
57.
fault prediction
58.
fault protection
59.
fault redundancy
60.
fault resilience
61.
fault ride through
62.
Fault ride through enhancement
63.
fault signal
64.
fault simulastion
65.
fault simulation
66.
fault simulation with critical path tracing
67.
fault tolerance
68.
fault tolerant
69.
fault tolerant control
70.
fault tolerant operation
71.
fault tolerant router design
72.
fault tolerant systems
73.
Fault Tree Analysis
74.
fault-injection attack
75.
fault-plane solution
76.
fault-resilience
77.
fault-resistant
78.
fault-ride-through (FRT)
79.
fault-tolerance
80.
fault-tolerant
81.
Fault-tolerant (FT) converters
82.
fault-tolerant control
83.
fault-tolerant converter
84.
functional fault model
85.
high-level control fault model
86.
high-level fault model
87.
high-level fault simulation
88.
high-level functional fault model
89.
Katun fault
90.
low-level fault redundancy
91.
no fault found
92.
No-Fault-Found
93.
parallel fault-simulation
94.
stuck-at fault model
95.
test generation and fault diagnosis
96.
transient fault mitigation
97.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT