Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
No-Fault-Found (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/95)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
BASTION : board and SoC test instrumentation for ageing and no failure found
Jutman, Artur
;
Lotz, Christophe
;
Larsson, Erik
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 27-31 March 2017, Swisstech, Lausanne, Switzerland
2017
/
p. 115-120 : ill
https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7926968
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
95
1.
No-Fault-Found
2.
no fault found
3.
No-Trouble-Found
4.
AI-based fault detection
5.
asynchronous fault detection
6.
automatic fault diagnosis
7.
bearing fault diagnosis
8.
bi-directional fault monitoring devices
9.
conditional fault collapsing
10.
control fault models
11.
critical path fault tracing
12.
cross-layer fault tolerance
13.
cross-layered fault management
14.
extended fault class
15.
fault currents
16.
fault analysis
17.
fault analysis model
18.
fault classification
19.
fault classification
20.
fault collapsing
21.
fault compensation
22.
fault coverage
23.
fault current and voltage measurements
24.
Fault current limite
25.
fault current limiter
26.
fault detection
27.
fault detection and classification
28.
fault detection and diagnoses
29.
fault detection and diagnosis
30.
fault diagnosis
31.
fault diagnostic
32.
fault diagnostic resolution
33.
fault diagnostics
34.
fault dignosis
35.
fault effects
36.
fault emulation
37.
fault equivalence and dominance
38.
fault handling
39.
fault handling strategy
40.
fault indicator
41.
fault injection
42.
Fault Injection Simulation
43.
fault Interruption
44.
fault localization
45.
fault location
46.
fault management
47.
fault masking
48.
fault modeling
49.
fault models
50.
fault monitoring
51.
fault prediction
52.
fault protection
53.
fault redundancy
54.
fault resilience
55.
fault ride through
56.
Fault ride through enhancement
57.
fault signal
58.
fault simulastion
59.
fault simulation
60.
fault simulation with critical path tracing
61.
fault tolerance
62.
fault tolerant
63.
fault tolerant control
64.
fault tolerant operation
65.
fault tolerant router design
66.
fault tolerant systems
67.
fault tree analysis
68.
fault-injection attack
69.
fault-plane solution
70.
fault-resilience
71.
fault-resistant
72.
fault-ride-through (FRT)
73.
fault-tolerance
74.
fault-tolerant
75.
Fault-tolerant (FT) converters
76.
fault-tolerant control
77.
fault-tolerant converter
78.
functional fault model
79.
high-level control fault model
80.
high-level fault coverage
81.
high-level fault model
82.
high-level fault simulation
83.
high-level functional fault model
84.
Katun fault
85.
low-level fault redundancy
86.
open circuit fault
87.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
88.
parallel fault-simulation
89.
short circuit fault
90.
spectrum-based fault localization
91.
stacking fault
92.
stuck-at fault model
93.
test generation and fault diagnosis
94.
transient fault mitigation
95.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT