Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
memory testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/100)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Fieback, Moritz
;
Wu, Lizhou
;
Jenihhin, Maksim
;
Taouil, Mottaqiallah
;
Hamdioui, Said
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
p. 792-797
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
100
1.
memory testing
2.
activation memory
3.
cache memory
4.
Digital Object Memory
5.
learning and memory
6.
long short term memory
7.
long short -term memory (LSTM)
8.
long short-term memory (LSTM)
9.
long-short term memory
10.
long-short-term memory (LSTM)
11.
memory
12.
memory architecture
13.
memory effect
14.
memory efficiency
15.
memory interconnect test
16.
memory kernels
17.
memory management
18.
memory network
19.
memory systems
20.
memory-induced resonance
21.
National memory
22.
non-volatile memory
23.
processing-in-memory
24.
random access memory
25.
relaxed memory
26.
shape memory alloy
27.
Shape memory alloys
28.
shape memory efect
29.
accelerated testing
30.
acoustomechanical testing
31.
anaerobic testing
32.
aspect-oriented testing
33.
at-speed testing
34.
benchmark testing
35.
Berridge testing
36.
cancer genomic testing
37.
compliance testing
38.
compositional testing
39.
computer aided testing
40.
conformance testing
41.
courses on electronic testing and design
42.
cybersecurity testing
43.
D. non-destructive testing
44.
design field testing
45.
eddy current testing
46.
erosion testing
47.
fatigue testing
48.
fire testing
49.
hierarchical testing
50.
hypotheses testing
51.
integration testing
52.
laboratory scale testing
53.
load testing
54.
macro mechanical testing and green surface tribology
55.
material testing
56.
materials testing
57.
measurement and testing
58.
mechanical testing
59.
metamorphic testing
60.
microprocessor testing
61.
model based testing
62.
model-based mutation testing
63.
model-based testing
64.
mutation testing
65.
network-testing
66.
non destructive testing
67.
nondestructive testing
68.
non-destructive testing
69.
on-site testing
70.
pin on disc wear testing
71.
PMU calibration testing
72.
PMU testing
73.
point-of-care testing
74.
processor core testing
75.
processor testing
76.
real-time HiL testing
77.
regression testing
78.
RISC processor testing
79.
robustness testing
80.
scenario testing
81.
scratch testing
82.
security testing
83.
small-scale fire testing
84.
software testing
85.
software-in-the-loop (SIL) testing
86.
stand-alone testing
87.
stress-testing
88.
substation testing methods
89.
system testing
90.
tensile testing
91.
testing
92.
testing methods
93.
testing of digital devices
94.
testing of generator
95.
testing of phasor measurement units
96.
two-dimensional array testing
97.
wafer testing
98.
wear testing
99.
vibration testing
100.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT