On the reuse of TLM mutation analysis at RTL
vastutusandmed
Valerio Guarnieri, ... Hanno Hantson, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar [et al.]
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 28, 4
ilmumisaasta
leheküljed
p. 435-448 : ill
võtmesõna
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 35 ref
keel
inglise
Guarnieri, V., Hantson, H., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R. On the reuse of TLM mutation analysis at RTL // Journal of electronic testing : theory and applications (2012) Vol. 28, 4, p. 435-448 : ill.