Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Ubar, Raimund-Johannes (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
834
Vaata veel..
(4/147)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(834)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
501
artikkel kogumikus
New built-in self-test scheme for SoC interconnect
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
The 9th World Multi-Conference on Systemics, Cybernetics and Informatics : WMSCI 2005 : July 10-13, 2005, Orlando, Florida, USA. Vol. IV
2005
/
p. 19-24 : ill
https://www.researchgate.net/publication/237375234_New_Built-In_Self-Test_Scheme_for_SoC_Interconnect
artikkel kogumikus
502
artikkel kogumikus
New categories of Safe Faults in a processor-based Embedded System
Gürsoy, Cemil Cem
;
Jenihhin, Maksim
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Piumatti, Davide
;
Raik, Jaan
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Ubar, Raimund-Johannes
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724642
artikkel kogumikus
503
artikkel kogumikus
New curricula and a competence centre through TEMPUS at the Technical University of Tallinn
Glesner, M.
;
Hollstein, Thomas
;
Courtois, B.
;
Amblar, P.
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vainomaa, Kaido
Workshop on Design Methodologies for Microelectronics, Smolenice castle, Slovakia, September 11-13, 1995 : proceedings
1995
/
p. 347-353
artikkel kogumikus
504
artikkel kogumikus
New fault models and self-test generation for microprocessors using High-Level Decision Diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Raik, Jaan
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
2015
/
p. 251-254 : ill
artikkel kogumikus
505
artikkel kogumikus
New method of testability calculation to guide RT-level test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
4th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2003 : Natal, Brazil, February 16-19, 2003
2003
/
p. 46-51 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-005-5288-5
artikkel kogumikus
506
artikkel kogumikus
New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
Krivenko, Anna
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Kruus, Margus
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
2008
/
lk. 155-158 : ill
artikkel kogumikus
507
artikkel ajakirjas
New test design techniques for fault detection in digital objects
Alango, Villem
;
Kont, Toomas
;
Ubar, Raimund-Johannes
Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised
1990
/
lk. 45-62: ill
artikkel ajakirjas
508
artikkel kogumikus
A novel artificial neural networks based automatic adaptive fault detection technique for analog circuits
Petlenkov, Eduard
;
Jutman, Artur
;
Nõmm, Sven
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 167-170 : ill
artikkel kogumikus
509
artikkel kogumikus
A novel random approach to diagnostic test generation
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
2016
/
[4] p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915
artikkel kogumikus
510
artikkel kogumikus
Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Kumar, Shashi
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 221-225 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2006.329215
artikkel kogumikus
511
artikkel kogumikus
Off-line testing of delay faults in NoC interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Jutman, Artur
;
Kumar, Shashi
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
9th EUROMICRO Conference on Digital Systems Design : Architectures, Methods and Tools (DSD 2006) : 30 August 2006-1 September 2006, Cavtat near Dubrovnik, Croatia : proceedings
2006
/
p. 677-680 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2006.72
artikkel kogumikus
512
artikkel kogumikus
On automatic software-based self-test program generation based on high-Level decision diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 177
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483357
artikkel kogumikus
513
artikkel kogumikus
On efficient logic-level simulation of digital circuits represented by the SSBDD model
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
2002
/
p. 621-624 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003334
artikkel kogumikus
514
artikkel kogumikus
On reusability of verification assertions for testing
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšepurov, Anton
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 151-154 : ill
artikkel kogumikus
515
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On test generation for microprocessors for extended class of functional faults
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
2020
/
p. 21-44
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
516
artikkel kogumikus
On the combined use of HLDDs and EFSMs for functional ATPG
Di Guglielmo, Giuseppe
;
Fummi, Franco
;
Jenihhin, Maksim
;
Pravadelli, Graziano
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
5th IEEE East-West Design & Test Symposium EWDTS 2007 : September 7-10, 2007, Yerevan, Armenia
2007
/
p. 503-508 : ill
artikkel kogumikus
517
artikkel ajakirjas
On the reuse of TLM mutation analysis at RTL
Guarnieri, Valerio
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2012
/
p. 435-448 : ill
artikkel ajakirjas
518
artikkel kogumikus
On using genetic algorithm for test generation
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ivask, Eero
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 233-236 : ill
artikkel kogumikus
519
artikkel kogumikus
On-line monitoring of dialysis adequacy using diasens optical sensor: accurate Kt/V estimation by smoothing algorithms
Talisainen, Aleksei
;
Kostin, Sergei
;
Karai, Deniss
;
Fridolin, Ivo
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 273-276 : ill
artikkel kogumikus
520
artikkel ajakirjas
Open-source JTAG simulator bundle for labs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Rosin, Vjatšeslav
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
International journal of electronics and telecommunications
2012
/
p. 233-239 : ill
https://journals.pan.pl/Content/87192/PDF/32.pdf
artikkel ajakirjas
521
raamat
Operatsioonautomaadid digitaalarvutites : metoodiline materjal
1987
https://www.ester.ee/record=b1234461*est
raamat
522
artikkel kogumikus
Optimierte Steuerung der Fehlersuche auf digitalen Leiterplatten
Thomä, E.
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 27th International Conference, Technical University of Ilmenau, October, 1982
1982
/
p. 65-68
artikkel kogumikus
523
dissertatsioon
Optimization of built-in self-test in digital systems = Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides
Kruus, Helena
2011
dissertatsioon
524
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 2007
2007
/
p. 71-77
https://ieeexplore.ieee.org/document/4297319
artikkel kogumikus
525
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 133-136 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 834, kuvan
501 - 525
eelmine
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
järgmine
CV
61
1.
Ubar, Raimund-Johannes 1941
2.
Räämet, Raimund 1918-2004
3.
Aare, Johannes 1915-2000
4.
Aavik, Eduard-Johannes
5.
Ahrenschild, Johannes (-1936)
6.
Alaots, Johannes
7.
Aljak, Arnold Johannes
8.
Allik, Erich-Johannes
9.
Avik, Eduard Johannes 1891-1942
10.
Drechsler, Wolfgang Johannes Max
11.
Ehala, Johannes 1986
12.
Hint, Johannes 1914-1985
13.
Johannes, Ille 1939
14.
Johannson, Johannes
15.
Johanson, Johannes
16.
Juhans, Johannes 1874-1956
17.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
18.
Kiiwet, Johannes
19.
Kiivet, Johannes 1879-1967
20.
Kivit, Johannes
21.
Kollist, Johannes 1884-1937
22.
Kollist, Johannes Theodor
23.
Korv, August Johannes 1911-1981
24.
Krimmer, Robert Johannes
25.
Käpp, Martin Johannes
26.
Langel, Johannes 1900-1985
27.
Langell, Johannes
28.
Livländer, Robert Johannes
29.
Lutsar, Richard-Johannes
30.
Madise, Johannes 1920-?
31.
Maltenek, Evald Leonhard Johannes
32.
Matsulevitš, Johannes
33.
Meitre, Johannes 1906-1978
34.
Messer, Johannes
35.
Muru, Johannes 1995
36.
Mäll, Johannes 1911-1981
37.
Mühlman, Johannes
38.
Mühlmann, Johannes 1888-1936
39.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
40.
Nuudi, Johannes 1895-1975
41.
Palo, Johannes 1925-1960
42.
Pals, Johannes 1903-1941
43.
Pello, Johannes 1958
44.
Pervik, Johannes 1892-1958
45.
Presmann, Johannes 1942
46.
Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
47.
Püümann, Mait Johannes
48.
Renter, Olav-Johannes
49.
Roes, Johannes 1914
50.
Russwurm, Johannes
51.
Russvurm, Johannes 1855-1939
52.
Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
53.
Sakeus, Johannes 1880-1934
54.
Taimsalu, Johannes 1891-1942
55.
Teiman, Johannes
56.
Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
57.
Tomson, Johannes
58.
Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
59.
Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
60.
Verus, Johannes Voldemar
61.
Vuhk, Oskar Johannes
autor
57
1.
Ubar, Raimund-Johannes
2.
Hagelberg, Raimund
3.
Räämet, Raimund
4.
Aare, Johannes
5.
Allas, Johannes-Emmanuel
6.
Avik, Eduard Johannes
7.
Bauer, Johannes
8.
Bender, Naatan Johannes
9.
Buchmann, Johannes
10.
Deelstra, Johannes
11.
Ehala, Johannes
12.
Engelmayer, Johannes
13.
Gotzmann, Johannes
14.
Helander, Johannes
15.
Hint, Johannes
16.
Hüsse, Johannes
17.
Johannes, Anu
18.
Johannes, Ellen
19.
Johannes, Ille
20.
Johannes, Kaljo-Mihkel
21.
Järv, Johannes
22.
Kadak, Johannes
23.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes
24.
Karstensen, Johannes
25.
Kerkhoven, Eduard Johannes
26.
Kiivet, Johannes
27.
Krimmer, Robert Johannes
28.
Kukebal, Johannes
29.
Meitre, Johannes
30.
Miller, Johannes
31.
Mühlman, Johannes
32.
Norberg, Johannes
33.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus
34.
Ortlepp, Johannes
35.
Parikas, Johannes
36.
Pello, Johannes
37.
Pervik, Johannes-Eduard
38.
Piiper, Johannes
39.
Presmann, Johannes
40.
Putk, Aksel-Johannes
41.
Pätsch, Johannes
42.
Saar, Johannes
43.
Sautter, Johannes
44.
Sinisalo, Touko Johannes
45.
Steinbrunn, Johannes
46.
Sutt, Johannes
47.
Zeiringer, Johannes Paul
48.
Taimsalu, Johannes
49.
Talu, Martin Johannes
50.
Tammekänd, Johannes
51.
Tilk, Johannes
52.
Tralla, Johannes
53.
Veerus, Johannes
54.
Vibur, Johannes Ferdinand
55.
Vind, Johannes
56.
Voll, Johannes
57.
Voltri, Johannes
tema kohta
28
1.
Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2.
Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3.
Räämet, Raimund, 1918-2004
4.
Aare, Johannes, 1915-2000
5.
Aavik, Johannes, 1880-1973
6.
Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7.
Bender, Naatan Johannes
8.
Erm, Johannes, 1998-
9.
Granö, Johannes Gabriel
10.
Hint, Johannes, 1914-1985
11.
Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12.
Kert, Johannes
13.
Kiivet, Johannes, 1879-1967
14.
Kollist, Johannes
15.
Käis, Johannes
16.
Lang, Johannes
17.
Maide, Johannes Voldemar
18.
Mossov, Johannes
19.
Pals, Johannes, 1903-1941
20.
Pello, Johannes
21.
Putk, Aksel-Johannes
22.
Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23.
Steinbrunn, Johannes
24.
Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25.
Talu, Martin Johannes
26.
Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27.
Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28.
Voll, Johannes
märksõna
1
1.
Johannes Mittus, vasevalamise tööstus
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT