Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
544
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(544)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
artikkel kogumikus
Application of nanoindentation for constituent phases testing in ceramic–metal composites
Hussainova, Irina
;
Jasiuk, Iwona
;
Hussainov, Medhat
Technical proceedings of the 2010 NSTI Nanotechnology Conference & Expo - Nanotech 2010. Vol. 1, Nanotechnology 2010 : Advanced materials, CNTs, Particles, Films and Composites
2010
/
p. 152-155 : ill
artikkel kogumikus
27
artikkel kogumikus
Application of sequential test set compaction to LFSR reseeding
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings
2008
/
p. 102-107 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738292
artikkel kogumikus
28
artikkel kogumikus
Approaches to improve hierarchical ATPG for synchronous sequential circuits
Viilukas, Taavi
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kuuenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 3.-5. oktoobril 2012, Laulasmaa
2012
/
p. 105-108 : ill
artikkel kogumikus
29
artikkel ajakirjas
Arterial pulse wave analysis during cold pressor test in patients with borderline hypertension [Electronic resource]
Hlimonenko, Irina
;
Meigas, Kalju
;
Vahisalu, Rein
IFMBE proceedings
2005
/
[5] p. [CD-ROM]
artikkel ajakirjas
30
dissertatsioon
Aspect-oriented model-based testing = Aspekt-orienteeritud mudeli-põhine testimine
Sarna, Külli
2018
https://digi.lib.ttu.ee/i/?11065
https://www.ester.ee/record=b5166882*est
dissertatsioon
31
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Aspect-oriented Model-based testing with UPPAAL timed automata
Vain, Jüri
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Kanter, Gert
Model and Data Engineering : 10th International Conference, MEDI 2021, Tallinn, Estonia, June 21–23, 2021 : proceedings
2021
/
p. 117-124
https://doi.org/10.1007/978-3-030-78428-7_10
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
32
artikkel kogumikus
Aspect-oriented testing of a rehabilitation system
Sarna, Külli
;
Vain, Jüri
VALID 2014 : the Sixth International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle : October 12-16, 2014, Nice, France
2014
/
p. 73-78 : ill
artikkel kogumikus
33
artikkel kogumikus
Assembling low-level tests to high-level symbolic test frames
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of the] 15th NORCHIP Conference, Tallinn, 10-11 November 1997
1997
/
p. 275-280: ill
artikkel kogumikus
34
artikkel kogumikus
Assessment of diagnostic test for automated bug localization
Tihhomirov, Valentin
;
Tšepurov, Anton
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATW2013 : 14th IEEE Latin-American Test Workshop, Cordoba, Argentina, April 3-5, 2013 : [proceedings]
2013
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
35
artikkel ajakirjas
Assessment of durability of environmentally friendly wood-based panels
Kallavus, Urve
;
Järv, Hele
;
Kalamees, Targo
;
Kurik, Lembit
Energy procedia
2017
/
p. 207–212 : ill
https://doi.org/10.1016/j.egypro.2017.09.756
artikkel ajakirjas
36
artikkel kogumikus
Assessment of the potential of lubricated contact condition laboratory testing and surface analysis for improving the performance of machine elements. Comparison of model and real component test methods
Antonov, Maksim
;
Michalczewski, Remigiusz
;
Pasaribu, Richard
;
Piekoszewski, Witold
18th International Baltic Conference : Engineering Materials & Tribology : BALTMATTRIB-2009 : October 22-23, 2009, Tallinn, Estonia : abstracts
2009
/
p. 55
artikkel kogumikus
37
artikkel kogumikus
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Indus, Viljar
;
Kalmend, Oliver
Proceedings of the IASTED International Conference on Engineering and Applied Science : December 27-29, 2012, Columbo, Sri Lanka
2012
/
p. 168-172 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
38
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
39
dissertatsioon
At-speed testing and test quality evaluation for high-performance pipelined systems Töökiirusel testimine ja testi kvaliteedi hindamine kõrgjõudlus-konveierarhitektuuriga süsteemidele
Gorev, Maksim
2015
https://digi.lib.ttu.ee/i/?3953
dissertatsioon
40
artikkel kogumikus
At-speed testing of inter-die connections of 3D-SICs in the presence of shore logic
Shibin, Konstantin
;
Chickermane, Vivek
;
Keller, Brion
;
Papameletis, Christos
;
Marinissen, Erik Jan
2015 Asian Test Symposium : ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings
2015
/
p. 79-84 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2015.21
artikkel kogumikus
41
artikkel kogumikus
Automated correction of design errors by edge redirection on high-level decision diagrams
Karputkin, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tombak, Mati
;
Raik, Jaan
13th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012
2012
/
p. 686-693 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/6113980
artikkel kogumikus
42
artikkel ajakirjas
Automated software-based in-field self-test program synthesis
Jasnetski, Artjom
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
International journal of microelectronics and computer science
2017
/
p. 57-64 : ill
artikkel ajakirjas
43
artikkel kogumikus
Automated test pattern generator with constraint solver
Viilukas, Taavi
;
Raik, Jaan
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
lk. 33-36
artikkel kogumikus
44
artikkel kogumikus
Automated test program synthesis for digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of 7th International Conference
2005
/
p. 171-180
artikkel kogumikus
45
artikkel kogumikus
Automated XML-based test modelling for mixed-signal circuits
Mellik, Andres
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
2006
/
p. 203-204 : ill
artikkel kogumikus
46
artikkel kogumikus
Automatic distribution of local testers for testing distributed systems
Vain, Jüri
;
Halling, Evelin
;
Kanter, Gert
;
Anier, Aivo
;
Pal, Deepak
Databases and information systems IX : selected papers from the twelfth International Baltic Conference, DB&IS 2016
2016
/
p. 297-310 : ill
http://dx.doi.org/10.3233/978-1-61499-714-6-297
artikkel kogumikus
47
artikkel kogumikus
Automatic GUI model generation : state of the art
Kull, Andres
ISSREW 2012 : 23rd IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering Supplemental Proceedings : 27-30 November 2012, Dallas, Texas, USA
2012
/
p. 207-212
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=6405443
artikkel kogumikus
48
artikkel kogumikus
Automatic SoC level test path synthesis based on partial functional models
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
2011 Asian Test Symposium (ATS) : New Delhi, India
2011
/
p. 532-538
https://ieeexplore.ieee.org/document/6114730
artikkel kogumikus
49
artikkel kogumikus
Automatic synthesis of asynchronous circuits from synchronous RTL descriptions
Öberg, Johnny
;
Plosila, Juha
;
Ellervee, Peeter
Proceedings 23rd NORCHIP Conference : Oulu, Finland, 21-22 November 2005
2005
/
p. 200-205 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1597024/keywords#keywords
artikkel kogumikus
50
artikkel kogumikus
Automatic test generation system for VLSI
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the First Electronic Circuits and Systems Conference : Bratislava, Slovakia, September 4-5, 1997
1997
/
p. 255-258
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 544, kuvan
26 - 50
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT