Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault effects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/143)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Fault-aware performance assessment approach for embedded networks
Malburg, Jan
;
Janson, Karl
;
Raik, Jaan
;
Dannemann, Frank
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724670
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
143
1.
fault effects
2.
AI-based fault detection
3.
asynchronous fault detection
4.
automatic fault diagnosis
5.
bearing fault diagnosis
6.
bi-directional fault monitoring devices
7.
conditional fault collapsing
8.
control fault models
9.
critical path fault tracing
10.
cross-layer fault tolerance
11.
cross-layered fault management
12.
extended fault class
13.
fault currents
14.
fault analysis
15.
fault analysis model
16.
fault classification
17.
fault classification
18.
fault collapsing
19.
fault compensation
20.
fault coverage
21.
fault current and voltage measurements
22.
Fault current limite
23.
fault current limiter
24.
fault detection
25.
fault detection and classification
26.
fault detection and diagnoses
27.
fault detection and diagnosis
28.
fault detection and diagnostics (FDD)
29.
fault diagnosis
30.
fault diagnostic
31.
fault diagnostic resolution
32.
fault diagnostics
33.
fault dignosis
34.
fault emulation
35.
fault equivalence and dominance
36.
fault handling
37.
fault handling strategy
38.
fault indicator
39.
fault injection
40.
Fault Injection Simulation
41.
fault Interruption
42.
fault localization
43.
fault location
44.
fault management
45.
fault masking
46.
fault modeling
47.
fault models
48.
fault monitoring
49.
fault prediction
50.
fault protection
51.
fault redundancy
52.
fault resilience
53.
fault ride through
54.
Fault ride through enhancement
55.
fault seeding
56.
fault signal
57.
fault simulastion
58.
fault simulation
59.
fault simulation with critical path tracing
60.
fault tolerance
61.
fault tolerant
62.
fault tolerant control
63.
fault tolerant operation
64.
fault tolerant router design
65.
fault tolerant systems
66.
fault tree analysis
67.
fault-injection attack
68.
fault-plane solution
69.
fault-resilience
70.
fault-resistant
71.
fault-ride-through (FRT)
72.
fault-tolerance
73.
fault-tolerant
74.
Fault-tolerant (FT) converters
75.
fault-tolerant control
76.
fault-tolerant converter
77.
functional fault model
78.
high-level control fault model
79.
high-level fault coverage
80.
high-level fault model
81.
high-level fault simulation
82.
high-level functional fault model
83.
hybrid fault detection
84.
Katun fault
85.
low-level fault redundancy
86.
no fault found
87.
No-Fault-Found
88.
open circuit fault
89.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
90.
parallel fault-simulation
91.
photovoltaic fault detection algorithms
92.
PV fault classification
93.
short circuit fault
94.
spectrum-based fault localization
95.
stacking fault
96.
stuck-at fault model
97.
test generation and fault diagnosis
98.
transient fault mitigation
99.
transmission lines fault
100.
algebraic effects
101.
anthropogenic effects
102.
biological effects
103.
bottom-up effects
104.
causal effects
105.
climate changes effects
106.
combinatorial effects
107.
Computational effects
108.
cumulative effects assessment
109.
Delay effects
110.
economic and social effects
111.
effects
112.
electoral effects
113.
electromechanical effects
114.
EMF effects
115.
environmental effects
116.
EU Horizon 2020 research project GRACE (Integrated oil spill response actions and environmental effects)
117.
fiscal and economic effects
118.
gender effects
119.
group effects
120.
health effects
121.
hierarchy-of-effects (HOE)
122.
horizontal effects
123.
indirect effects
124.
innovation effects
125.
interactive fixed effects
126.
layout-based effects
127.
magnetomechanical effects
128.
magneto-mechanical effects
129.
mechanical and thermal effects
130.
micellar effects
131.
multi-actor effects
132.
proximity effects
133.
radiation effects
134.
risk coupling effects
135.
single event effects
136.
single-event effects
137.
solvent effects
138.
spillover effects
139.
spill-over effects
140.
substitution effects
141.
temperature effects
142.
thermal effects
143.
topographic effects
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT