Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test reference year (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/161)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Development of weighting factors for climate variables for selecting the energy reference year according to the EN ISO 15927-4 standard
Kalamees, Targo
;
Jylhä, Kirsti
;
Tietäväinen, Hanna
;
Jokisalo, Juha
;
Ilomets, Simo
;
Hyvönen, Reijo
;
Saku, Seppo
Energy and buildings
2012
/
p. 53-60
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0378778811005779
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
New typical meteorological year generation method based on long-term building energy simulations
Seyed Salehi, Seyed Shahabaldin
;
Kalamees, Targo
;
Kurnitski, Jarek
;
Thalfeldt, Martin
Building and environment
2024
/
art. 111504
https://doi.org/10.1016/j.buildenv.2024.111504
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
159
1.
test reference year
2.
Common European Framework of Reference for Languages
3.
digital reference
4.
dq reference frame
5.
European reference room
6.
European Vertical Reference System (EVRS)
7.
GNSS virtual reference station
8.
gravity reference frame
9.
height reference systems
10.
HL7 Version 3: Reference Information Model (RIM)
11.
model reference adaptive control
12.
model reference controller
13.
multi-loop model reference control
14.
openEHR RM (Reference Model)
15.
reference
16.
reference architecture
17.
reference discovery
18.
reference images
19.
reference intervals
20.
reference lakes
21.
reference model
22.
supply chain operations reference (SCOR)
23.
supply chain operations reference (SCOR) model
24.
synchronous reference frame theory
25.
vertical reference
26.
vertical reference datum
27.
Vertical reference surface
28.
accelerated shelf-life test
29.
adaptive test strategy generation
30.
antigen test
31.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
32.
automated test environment
33.
automated test pattern generation
34.
automatic test case generation
35.
automatic test pattern generation
36.
automatic test program generation
37.
Auvergne test-bed
38.
battery test
39.
behavioral test
40.
behaviour level test generation
41.
bending test
42.
bit-error rate test
43.
Board and System Test
44.
board test
45.
bounds test
46.
built-in self-test
47.
capillary condensation redistribution test
48.
chi-square test
49.
closed bottle test
50.
cognitive screening test
51.
compartment fire test
52.
compartment test
53.
cone penetration test (CPT)
54.
COVID-19 antigen test
55.
cutting test
56.
cybersecurity test bed
57.
DDR4 interconnect test
58.
design and test
59.
design-for-test
60.
deterministic test sequences
61.
diagnostic test
62.
digital test
63.
Digital test and testable design
64.
double-pulse test
65.
drawing test
66.
dry droplet antimicrobial test
67.
embedded test
68.
fan pressurisation test
69.
final test result prediction
70.
four-point bending test
71.
FPGA based test
72.
FPGA-Assisted Test
73.
FPGA-centric test
74.
functional self-test
75.
functional test generation
76.
Granger causality test
77.
hardness test
78.
high-level synthesis for test
79.
high-level test data generation
80.
highlevel test generation
81.
high-speed serial link test
82.
IEEE 9 bus test system
83.
implementation-independent test generation
84.
in situ tensile test in SEM
85.
industrial field test
86.
in-situ tensile test in SEM
87.
Johansen cointegration test
88.
Kolmogorov-Smirnov test
89.
load test
90.
logic built-in self-test
91.
Luria alternating series test
92.
Mann–Kendall test
93.
memory interconnect test
94.
microprocessor test
95.
Model test
96.
multiplier test
97.
offline test generation
98.
orthogonal test
99.
package test analysis
100.
parallel design and test
101.
performance test
102.
piezocone penetration test (CPTu)
103.
Point Load Test index
104.
pressurisation test
105.
processor-centric board test
106.
progressive damage test
107.
provably correct test generation
108.
pseudo-exhaustive test
109.
purity test
110.
rtioco-based timed test sequences
111.
seasonal Mann Kendall test
112.
seismic piezocone penetration test
113.
self-test
114.
self-test architectures
115.
sentence writing test
116.
serial sevens test
117.
ship towing test tank
118.
similar material simulation test
119.
small-scale fire test
120.
small‐scale test
121.
software based self-test
122.
software-based self-test
123.
software-based self-test (SBST)
124.
soil phosphorus (P) test
125.
standard test method
126.
static load test
127.
static-dynamic probing test (SDT)
128.
stress test
129.
system level test
130.
teaching design and test of systems
131.
tensile test
132.
test
133.
test and evaluation platform
134.
test bench
135.
test coverage
136.
test driven development
137.
test driven modelling
138.
test embankment
139.
test equipment
140.
test generation
141.
test generation and fault diagnosis
142.
test groups
143.
test model design
144.
test optimization
145.
test packets
146.
test path synthesis
147.
test patterns
148.
test point insertion
149.
test program generation
150.
test replication
151.
test scenario description language
152.
test-bed
153.
test-chips
154.
test-house
155.
test-pattern
156.
test-suite reduction
157.
Three-point bending test
158.
unit root test
159.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT