Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
FPGA-Assisted Test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/167)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentation
Ehrenberg, Heiko
;
Odintsov, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Wenzel, Thomas
2019 IEEE AUTOTESTCON
2019
/
10 p : ill
https://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
165
1.
FPGA-Assisted Test
2.
FPGA based test
3.
FPGA-centric test
4.
Field Programmable Gate Array (FPGA)
5.
Field-Programmable Gate Array (FPGA)
6.
FPGA
7.
FPGA (field-programmable gate array)
8.
FPGA based lab kit
9.
FPGA implementation
10.
FPGA redaction
11.
FPGA/PSoC design
12.
FPGA-based development boards
13.
FPGA-based prototyping
14.
FPGA-Embedded Instrument
15.
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
16.
recycled FPGA detection
17.
aerosol assisted chemical vapour deposition (AACVD)
18.
assisted living
19.
assisted reproductive technologies
20.
capacitor assisted extended boost qZSI
21.
computer assisted language learning
22.
computer-assisted language learning (CALL)
23.
diode assisted extended boost qZSI
24.
fan-assisted radiator
25.
fan-assisted radiators
26.
Internet assisted laboratories
27.
laser-assisted directed energy deposition
28.
microwave assisted synthesis
29.
microwave-assisted synthesis
30.
permanent magnet assisted synchronous reluctance machines
31.
permanent magnet assisted synchronous reluctance motor
32.
permanent magnet-assisted synchronous reluctance motor
33.
photo-assisted electrodeposition
34.
robot-assisted teaching
35.
technology-assisted refereeing
36.
Ultrasound-assisted transesterification
37.
accelerated shelf-life test
38.
adaptive test strategy generation
39.
antigen test
40.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
41.
automated test environment
42.
automated test pattern generation
43.
automatic test case generation
44.
automatic test pattern generation
45.
automatic test program generation
46.
Auvergne test-bed
47.
battery test
48.
behavioral test
49.
behaviour level test generation
50.
bending test
51.
bit-error rate test
52.
Board and System Test
53.
board test
54.
bounds test
55.
built-in self-test
56.
capillary condensation redistribution test
57.
chi-square test
58.
closed bottle test
59.
cognitive screening test
60.
compartment fire test
61.
compartment test
62.
cone penetration test (CPT)
63.
COVID-19 antigen test
64.
cutting test
65.
cybersecurity test bed
66.
DDR4 interconnect test
67.
design and test
68.
design-for-test
69.
deterministic test sequences
70.
diagnostic test
71.
digital test
72.
Digital test and testable design
73.
double-pulse test
74.
drawing test
75.
dry droplet antimicrobial test
76.
embedded test
77.
fan pressurisation test
78.
final test result prediction
79.
four-point bending test
80.
functional self-test
81.
functional test generation
82.
Granger causality test
83.
hardness test
84.
high-level synthesis for test
85.
high-level test data generation
86.
highlevel test generation
87.
high-speed serial link test
88.
IEEE 9 bus test system
89.
implementation-independent test generation
90.
in situ tensile test in SEM
91.
industrial field test
92.
in-situ tensile test in SEM
93.
Johansen cointegration test
94.
Kolmogorov-Smirnov test
95.
load test
96.
logic built-in self-test
97.
Luria alternating series test
98.
Mann–Kendall test
99.
memory interconnect test
100.
microprocessor test
101.
Model test
102.
multiplier test
103.
offline test generation
104.
orthogonal test
105.
package test analysis
106.
parallel design and test
107.
performance test
108.
piezocone penetration test (CPTu)
109.
Point Load Test index
110.
pressurisation test
111.
processor-centric board test
112.
progressive damage test
113.
provably correct test generation
114.
pseudo-exhaustive test
115.
purity test
116.
rtioco-based timed test sequences
117.
seasonal Mann Kendall test
118.
seismic piezocone penetration test
119.
self-test
120.
self-test architectures
121.
sentence writing test
122.
serial sevens test
123.
ship towing test tank
124.
similar material simulation test
125.
small‐scale test
126.
software based self-test
127.
software-based self-test
128.
software-based self-test (SBST)
129.
soil phosphorus (P) test
130.
standard test method
131.
static load test
132.
static-dynamic probing test (SDT)
133.
stress test
134.
system level test
135.
teaching design and test of systems
136.
tensile test
137.
test
138.
test and evaluation platform
139.
test bench
140.
test coverage
141.
test driven development
142.
test driven modelling
143.
test embankment
144.
test equipment
145.
test generation
146.
test generation and fault diagnosis
147.
test groups
148.
test model design
149.
test optimization
150.
test packets
151.
test path synthesis
152.
test patterns
153.
test point insertion
154.
test program generation
155.
test reference year
156.
test replication
157.
test scenario description language
158.
test-bed
159.
test-chips
160.
test-house
161.
test-pattern
162.
test-suite reduction
163.
Three-point bending test
164.
unit root test
165.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT