Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test automation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/171)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Iterative optimization of hyperparameter-based metamorphic transformations
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2024 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
2024
/
p. 13-20
https://doi.org/10.1109/ICSTW60967.2024.00016
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
168
1.
test automation
2.
algorithmic automation
3.
automation
4.
automation and robotics
5.
automation clutch
6.
building automation
7.
Building Automation and Control System (BACS)
8.
building automation and control systems
9.
design automation
10.
electronic design automation
11.
factory automation
12.
Healthcare automation
13.
industrial automation
14.
Intralogistics automation
15.
lean automation
16.
Manufacturing automation
17.
Maritime automation
18.
Networked Automation Systems (NAS)
19.
port automation
20.
production automation
21.
public service automation
22.
reconfiguration automation
23.
road vehicle automation
24.
robotic process automation
25.
robotics and automation
26.
welding automation
27.
accelerated shelf-life test
28.
adaptive test strategy generation
29.
antigen test
30.
Applications in Test Engineering
31.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
32.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
33.
automated test environment
34.
automated test pattern generation
35.
automatic test case generation
36.
automatic test pattern generation
37.
automatic test program generation
38.
Auvergne test-bed
39.
battery test
40.
behavioral test
41.
behaviour level test generation
42.
bending test
43.
bit-error rate test
44.
Board and System Test
45.
board test
46.
bounds test
47.
built-in self-test
48.
capillary condensation redistribution test
49.
chi-square test
50.
closed bottle test
51.
cognitive screening test
52.
compartment fire test
53.
compartment test
54.
cone penetration test (CPT)
55.
COVID-19 antigen test
56.
cutting test
57.
cybersecurity test bed
58.
DDR4 interconnect test
59.
design and test
60.
design-for-test
61.
deterministic test sequences
62.
diagnostic test
63.
digital test
64.
Digital test and testable design
65.
double-pulse test
66.
drawing test
67.
dry droplet antimicrobial test
68.
embedded test
69.
fan pressurisation test
70.
final test result prediction
71.
four-point bending test
72.
FPGA based test
73.
FPGA-Assisted Test
74.
FPGA-centric test
75.
functional self-test
76.
functional test generation
77.
Granger causality test
78.
hardness test
79.
Hierarchical Multi-level Test Generation
80.
high-level synthesis for test
81.
high-level test data generation
82.
highlevel test generation
83.
high-speed serial link test
84.
IEEE 9 bus test system
85.
implementation-independent test generation
86.
in situ tensile test in SEM
87.
industrial field test
88.
in-situ tensile test in SEM
89.
Johansen cointegration test
90.
Kolmogorov-Smirnov test
91.
load test
92.
logic built-in self-test
93.
Luria alternating series test
94.
Mann–Kendall test
95.
Mann-Kendall trend test
96.
memory interconnect test
97.
microprocessor test
98.
Model test
99.
multiplier test
100.
offline test generation
101.
orthogonal test
102.
package test analysis
103.
parallel design and test
104.
performance test
105.
piezocone penetration test (CPTu)
106.
Point Load Test index
107.
pressurisation test
108.
processor-centric board test
109.
progressive damage test
110.
provably correct test generation
111.
pseudo-exhaustive test
112.
purity test
113.
real-time room temperature test
114.
rolling thin film oven test
115.
rtioco-based timed test sequences
116.
seasonal Mann Kendall test
117.
seismic piezocone penetration test
118.
self-test
119.
self-test architectures
120.
sentence writing test
121.
serial sevens test
122.
ship towing test tank
123.
similar material simulation test
124.
small-scale fire test
125.
small‐scale test
126.
software based self-test
127.
software-based self-test
128.
software-based self-test (SBST)
129.
soil phosphorus (P) test
130.
standard test method
131.
static load test
132.
static-dynamic probing test (SDT)
133.
stress test
134.
system level test
135.
teaching design and test of systems
136.
tensile test
137.
tensile test
138.
test
139.
test and evaluation platform
140.
test bench
141.
test coverage
142.
test driven development
143.
test driven modelling
144.
test embankment
145.
test equipment
146.
test generation
147.
test generation and fault diagnosis
148.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
149.
test groups
150.
test model design
151.
test optimization
152.
test packets
153.
test path synthesis
154.
test patterns
155.
test point insertion
156.
test program generation
157.
test reference year
158.
test replication
159.
test scenario description language
160.
test-bed
161.
test-chips
162.
test-house
163.
test-pattern
164.
test-suite reduction
165.
Three-point bending test
166.
unit root test
167.
usability platform test
168.
1995 ECC benchmark test
märksõna
3
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
3.
Danube Adria Association for Automation and Manufacturing. International conference
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT