Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(2/131)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Design obfuscation versus test
Farahmandi, Farimah
;
Sinanoglu, Ozgur
;
Blanton, Ronald
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
2020
/
10 p
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
RESCUE EDA Toolset for interdependent aspects of reliability, security and quality in nanoelectronic systems design
Gürsoy, Cemil Cem
;
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Chen, Juanho
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Lai, Xinhui
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
DATE 2019
2019
/
1 p. : ill
https://doi.org/10.5281/zenodo.3362529
https://past.date-conference.com/
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
RESCUE: interdependent challenges of reliability, security and quality in nanoelectronic systems
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
art. 19690741 , 6 p
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116558
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
129
1.
accelerated shelf-life test
2.
adaptive test strategy generation
3.
antigen test
4.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
5.
automated test environment
6.
automated test pattern generation
7.
automatic test case generation
8.
automatic test pattern generation
9.
automatic test program generation
10.
Auvergne test-bed
11.
battery test
12.
behavioral test
13.
behaviour level test generation
14.
bending test
15.
bit-error rate test
16.
Board and System Test
17.
board test
18.
bounds test
19.
built-in self-test
20.
capillary condensation redistribution test
21.
chi-square test
22.
closed bottle test
23.
cognitive screening test
24.
compartment fire test
25.
compartment test
26.
cone penetration test (CPT)
27.
COVID-19 antigen test
28.
cutting test
29.
cybersecurity test bed
30.
DDR4 interconnect test
31.
design and test
32.
design-for-test
33.
deterministic test sequences
34.
diagnostic test
35.
digital test
36.
Digital test and testable design
37.
double-pulse test
38.
drawing test
39.
dry droplet antimicrobial test
40.
embedded test
41.
fan pressurisation test
42.
final test result prediction
43.
four-point bending test
44.
FPGA based test
45.
FPGA-Assisted Test
46.
FPGA-centric test
47.
functional self-test
48.
functional test generation
49.
Granger causality test
50.
hardness test
51.
high-level synthesis for test
52.
high-level test data generation
53.
highlevel test generation
54.
high-speed serial link test
55.
IEEE 9 bus test system
56.
implementation-independent test generation
57.
in situ tensile test in SEM
58.
industrial field test
59.
in-situ tensile test in SEM
60.
Johansen cointegration test
61.
Kolmogorov-Smirnov test
62.
load test
63.
logic built-in self-test
64.
Luria alternating series test
65.
Mann–Kendall test
66.
memory interconnect test
67.
microprocessor test
68.
Model test
69.
multiplier test
70.
offline test generation
71.
orthogonal test
72.
package test analysis
73.
parallel design and test
74.
performance test
75.
piezocone penetration test (CPTu)
76.
Point Load Test index
77.
pressurisation test
78.
processor-centric board test
79.
provably correct test generation
80.
pseudo-exhaustive test
81.
purity test
82.
rtioco-based timed test sequences
83.
seasonal Mann Kendall test
84.
self-test
85.
self-test architectures
86.
sentence writing test
87.
serial sevens test
88.
ship towing test tank
89.
similar material simulation test
90.
small‐scale test
91.
software based self-test
92.
software-based self-test
93.
software-based self-test (SBST)
94.
soil phosphorus (P) test
95.
standard test method
96.
static load test
97.
static-dynamic probing test (SDT)
98.
stress test
99.
system level test
100.
teaching design and test of systems
101.
tensile test
102.
test
103.
test and evaluation platform
104.
test bench
105.
test coverage
106.
test driven development
107.
test driven modelling
108.
test embankment
109.
test equipment
110.
test generation
111.
test generation and fault diagnosis
112.
test groups
113.
test model design
114.
test optimization
115.
test packets
116.
test path synthesis
117.
test patterns
118.
test point insertion
119.
test program generation
120.
test reference year
121.
test replication
122.
test scenario description language
123.
test-bed
124.
test-house
125.
test-pattern
126.
test-suite reduction
127.
Three-point bending test
128.
unit root test
129.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT