Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Liitotsing
Valitud kirjed
0
test packets (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Lihtotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/134)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A framework for combining concurrent checking and online embedded test for low-latency fault detection in NoC routers
Saltarelli, Pietro
;
Niazmand, Behrad
;
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Hollstein, Thomas
;
Jervan, Gert
;
Hariharan, Ranganathan
NOCS '15 : International Symposium on Networks-on-Chip : Vancouver, BC, Canada, September 28-30, 2015
2015
/
[8] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1145/2786572.2788713
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
132
1.
test packets
2.
accelerated shelf-life test
3.
adaptive test strategy generation
4.
antigen test
5.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
6.
automated test environment
7.
automated test pattern generation
8.
automatic test case generation
9.
automatic test pattern generation
10.
automatic test program generation
11.
Auvergne test-bed
12.
battery test
13.
behavioral test
14.
behaviour level test generation
15.
bending test
16.
bit-error rate test
17.
Board and System Test
18.
board test
19.
bounds test
20.
built-in self-test
21.
capillary condensation redistribution test
22.
chi-square test
23.
closed bottle test
24.
cognitive screening test
25.
compartment fire test
26.
compartment test
27.
cone penetration test (CPT)
28.
COVID-19 antigen test
29.
cutting test
30.
cybersecurity test bed
31.
DDR4 interconnect test
32.
design and test
33.
design-for-test
34.
deterministic test sequences
35.
diagnostic test
36.
digital test
37.
Digital test and testable design
38.
double-pulse test
39.
drawing test
40.
dry droplet antimicrobial test
41.
embedded test
42.
fan pressurisation test
43.
final test result prediction
44.
four-point bending test
45.
FPGA based test
46.
FPGA-Assisted Test
47.
FPGA-centric test
48.
functional self-test
49.
functional test generation
50.
Granger causality test
51.
hardness test
52.
high-level synthesis for test
53.
high-level test data generation
54.
highlevel test generation
55.
high-speed serial link test
56.
IEEE 9 bus test system
57.
implementation-independent test generation
58.
in situ tensile test in SEM
59.
industrial field test
60.
in-situ tensile test in SEM
61.
Johansen cointegration test
62.
Kolmogorov-Smirnov test
63.
load test
64.
logic built-in self-test
65.
Luria alternating series test
66.
Mann–Kendall test
67.
memory interconnect test
68.
microprocessor test
69.
Model test
70.
multiplier test
71.
offline test generation
72.
orthogonal test
73.
package test analysis
74.
parallel design and test
75.
performance test
76.
piezocone penetration test (CPTu)
77.
Point Load Test index
78.
pressurisation test
79.
processor-centric board test
80.
progressive damage test
81.
provably correct test generation
82.
pseudo-exhaustive test
83.
purity test
84.
rtioco-based timed test sequences
85.
seasonal Mann Kendall test
86.
seismic piezocone penetration test
87.
self-test
88.
self-test architectures
89.
sentence writing test
90.
serial sevens test
91.
ship towing test tank
92.
similar material simulation test
93.
small‐scale test
94.
software based self-test
95.
software-based self-test
96.
software-based self-test (SBST)
97.
soil phosphorus (P) test
98.
standard test method
99.
static load test
100.
static-dynamic probing test (SDT)
101.
stress test
102.
system level test
103.
teaching design and test of systems
104.
tensile test
105.
test
106.
test and evaluation platform
107.
test bench
108.
test coverage
109.
test driven development
110.
test driven modelling
111.
test embankment
112.
test equipment
113.
test generation
114.
test generation and fault diagnosis
115.
test groups
116.
test model design
117.
test optimization
118.
test path synthesis
119.
test patterns
120.
test point insertion
121.
test program generation
122.
test reference year
123.
test replication
124.
test scenario description language
125.
test-bed
126.
test-chips
127.
test-house
128.
test-pattern
129.
test-suite reduction
130.
Three-point bending test
131.
unit root test
132.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT