Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test packets (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/145)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A framework for combining concurrent checking and online embedded test for low-latency fault detection in NoC routers
Saltarelli, Pietro
;
Niazmand, Behrad
;
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Hollstein, Thomas
;
Jervan, Gert
;
Hariharan, Ranganathan
NOCS '15 : International Symposium on Networks-on-Chip : Vancouver, BC, Canada, September 28-30, 2015
2015
/
[8] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1145/2786572.2788713
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
143
1.
test packets
2.
accelerated shelf-life test
3.
adaptive test strategy generation
4.
antigen test
5.
Applications in Test Engineering
6.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
7.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
8.
automated test environment
9.
automated test pattern generation
10.
automatic test case generation
11.
automatic test pattern generation
12.
automatic test program generation
13.
Auvergne test-bed
14.
battery test
15.
behavioral test
16.
behaviour level test generation
17.
bending test
18.
bit-error rate test
19.
Board and System Test
20.
board test
21.
bounds test
22.
built-in self-test
23.
capillary condensation redistribution test
24.
chi-square test
25.
closed bottle test
26.
cognitive screening test
27.
compartment fire test
28.
compartment test
29.
cone penetration test (CPT)
30.
COVID-19 antigen test
31.
cutting test
32.
cybersecurity test bed
33.
DDR4 interconnect test
34.
design and test
35.
design-for-test
36.
deterministic test sequences
37.
diagnostic test
38.
digital test
39.
Digital test and testable design
40.
double-pulse test
41.
drawing test
42.
dry droplet antimicrobial test
43.
embedded test
44.
fan pressurisation test
45.
final test result prediction
46.
four-point bending test
47.
FPGA based test
48.
FPGA-Assisted Test
49.
FPGA-centric test
50.
functional self-test
51.
functional test generation
52.
Granger causality test
53.
hardness test
54.
Hierarchical Multi-level Test Generation
55.
high-level synthesis for test
56.
high-level test data generation
57.
highlevel test generation
58.
high-speed serial link test
59.
IEEE 9 bus test system
60.
implementation-independent test generation
61.
in situ tensile test in SEM
62.
industrial field test
63.
in-situ tensile test in SEM
64.
Johansen cointegration test
65.
Kolmogorov-Smirnov test
66.
load test
67.
logic built-in self-test
68.
Luria alternating series test
69.
Mann–Kendall test
70.
Mann-Kendall trend test
71.
memory interconnect test
72.
microprocessor test
73.
Model test
74.
multiplier test
75.
offline test generation
76.
orthogonal test
77.
package test analysis
78.
parallel design and test
79.
performance test
80.
piezocone penetration test (CPTu)
81.
Point Load Test index
82.
pressurisation test
83.
processor-centric board test
84.
progressive damage test
85.
provably correct test generation
86.
pseudo-exhaustive test
87.
purity test
88.
real-time room temperature test
89.
rolling thin film oven test
90.
rtioco-based timed test sequences
91.
seasonal Mann Kendall test
92.
seismic piezocone penetration test
93.
self-test
94.
self-test architectures
95.
sentence writing test
96.
serial sevens test
97.
ship towing test tank
98.
similar material simulation test
99.
small-scale fire test
100.
small‐scale test
101.
software based self-test
102.
software-based self-test
103.
software-based self-test (SBST)
104.
soil phosphorus (P) test
105.
standard test method
106.
static load test
107.
static-dynamic probing test (SDT)
108.
stress test
109.
system level test
110.
teaching design and test of systems
111.
tensile test
112.
tensile test
113.
test
114.
test and evaluation platform
115.
test automation
116.
test bench
117.
test coverage
118.
test driven development
119.
test driven modelling
120.
test embankment
121.
test equipment
122.
test generation
123.
test generation and fault diagnosis
124.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
125.
test groups
126.
test model design
127.
test optimization
128.
test path synthesis
129.
test patterns
130.
test point insertion
131.
test program generation
132.
test reference year
133.
test replication
134.
test scenario description language
135.
test-bed
136.
test-chips
137.
test-house
138.
test-pattern
139.
test-suite reduction
140.
Three-point bending test
141.
unit root test
142.
usability platform test
143.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT