Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
multiplier test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/142)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cells
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS 2018 : Budapest, Hungary 25-27 April, 2018 : proceedings
2018
/
p. 21-26 : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2018.00011
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
140
1.
multiplier test
2.
alternating direction multiplier method
3.
karatsuba multiplier
4.
lagrangian multiplier
5.
multiplier effect
6.
schoolbook multiplier
7.
toom cook multiplier
8.
voltage multiplier
9.
voltage multiplier cell
10.
accelerated shelf-life test
11.
adaptive test strategy generation
12.
antigen test
13.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
14.
automated test environment
15.
automated test pattern generation
16.
automatic test case generation
17.
automatic test pattern generation
18.
automatic test program generation
19.
Auvergne test-bed
20.
battery test
21.
behavioral test
22.
behaviour level test generation
23.
bending test
24.
bit-error rate test
25.
Board and System Test
26.
board test
27.
bounds test
28.
built-in self-test
29.
capillary condensation redistribution test
30.
chi-square test
31.
closed bottle test
32.
cognitive screening test
33.
compartment fire test
34.
compartment test
35.
cone penetration test (CPT)
36.
COVID-19 antigen test
37.
cutting test
38.
cybersecurity test bed
39.
DDR4 interconnect test
40.
design and test
41.
design-for-test
42.
deterministic test sequences
43.
diagnostic test
44.
digital test
45.
Digital test and testable design
46.
double-pulse test
47.
drawing test
48.
dry droplet antimicrobial test
49.
embedded test
50.
fan pressurisation test
51.
final test result prediction
52.
four-point bending test
53.
FPGA based test
54.
FPGA-Assisted Test
55.
FPGA-centric test
56.
functional self-test
57.
functional test generation
58.
Granger causality test
59.
hardness test
60.
high-level synthesis for test
61.
high-level test data generation
62.
highlevel test generation
63.
high-speed serial link test
64.
IEEE 9 bus test system
65.
implementation-independent test generation
66.
in situ tensile test in SEM
67.
industrial field test
68.
in-situ tensile test in SEM
69.
Johansen cointegration test
70.
Kolmogorov-Smirnov test
71.
load test
72.
logic built-in self-test
73.
Luria alternating series test
74.
Mann–Kendall test
75.
memory interconnect test
76.
microprocessor test
77.
Model test
78.
offline test generation
79.
orthogonal test
80.
package test analysis
81.
parallel design and test
82.
performance test
83.
piezocone penetration test (CPTu)
84.
Point Load Test index
85.
pressurisation test
86.
processor-centric board test
87.
progressive damage test
88.
provably correct test generation
89.
pseudo-exhaustive test
90.
purity test
91.
rtioco-based timed test sequences
92.
seasonal Mann Kendall test
93.
seismic piezocone penetration test
94.
self-test
95.
self-test architectures
96.
sentence writing test
97.
serial sevens test
98.
ship towing test tank
99.
similar material simulation test
100.
small‐scale test
101.
software based self-test
102.
software-based self-test
103.
software-based self-test (SBST)
104.
soil phosphorus (P) test
105.
standard test method
106.
static load test
107.
static-dynamic probing test (SDT)
108.
stress test
109.
system level test
110.
teaching design and test of systems
111.
tensile test
112.
test
113.
test and evaluation platform
114.
test bench
115.
test coverage
116.
test driven development
117.
test driven modelling
118.
test embankment
119.
test equipment
120.
test generation
121.
test generation and fault diagnosis
122.
test groups
123.
test model design
124.
test optimization
125.
test packets
126.
test path synthesis
127.
test patterns
128.
test point insertion
129.
test program generation
130.
test reference year
131.
test replication
132.
test scenario description language
133.
test-bed
134.
test-chips
135.
test-house
136.
test-pattern
137.
test-suite reduction
138.
Three-point bending test
139.
unit root test
140.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT