Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault collapsing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/88)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Josifovska, Galina
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
DSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal
2015
/
p. 700-705 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
https://doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
3
artikkel kogumikus
Logic simulation and fault collapsing with shared structurally synthesized BDDs
Mironov, Dmitri
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 26th-30th, 2014, Paderborn, Germany : proceedings
2014
/
[2] p. : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Modeling sequential circuits with shared structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Marenkov, Mihhail
;
Mironov, Dmitri
;
Viies, Vladimir
Proceedings of 2014 9th International Design & Test Symposium (IDT) : Sheraton Club des Pins Hotel, Algiers, Algeria, December 16-18, 2014
2014
/
p. 130-135 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
88
1.
conditional fault collapsing
2.
fault collapsing
3.
asynchronous fault detection
4.
automatic fault diagnosis
5.
bearing fault diagnosis
6.
bi-directional fault monitoring devices
7.
control fault models
8.
critical path fault tracing
9.
cross-layer fault tolerance
10.
cross-layered fault management
11.
extended fault class
12.
fault currents
13.
fault analysis
14.
fault analysis model
15.
fault classification
16.
fault classification
17.
fault compensation
18.
fault coverage
19.
fault current and voltage measurements
20.
Fault current limite
21.
fault current limiter
22.
fault detection
23.
fault detection and diagnoses
24.
fault detection and diagnosis
25.
fault diagnosis
26.
fault diagnostic
27.
fault diagnostic resolution
28.
fault diagnostics
29.
fault dignosis
30.
fault effects
31.
fault emulation
32.
fault equivalence and dominance
33.
fault handling
34.
fault handling strategy
35.
fault indicator
36.
fault injection
37.
Fault Injection Simulation
38.
fault Interruption
39.
fault localization
40.
fault management
41.
fault masking
42.
fault modeling
43.
fault models
44.
fault monitoring
45.
fault prediction
46.
fault protection
47.
fault redundancy
48.
fault resilience
49.
fault ride through
50.
Fault ride through enhancement
51.
fault signal
52.
fault simulastion
53.
fault simulation
54.
fault simulation with critical path tracing
55.
fault tolerance
56.
fault tolerant
57.
fault tolerant control
58.
fault tolerant operation
59.
fault tolerant router design
60.
fault tolerant systems
61.
Fault Tree Analysis
62.
fault-injection attack
63.
fault-plane solution
64.
fault-resilience
65.
fault-resistant
66.
fault-ride-through (FRT)
67.
fault-tolerance
68.
fault-tolerant
69.
Fault-tolerant (FT) converters
70.
fault-tolerant control
71.
fault-tolerant converter
72.
functional fault model
73.
high-level control fault model
74.
high-level fault coverage
75.
high-level fault model
76.
high-level fault simulation
77.
high-level functional fault model
78.
Katun fault
79.
low-level fault redundancy
80.
no fault found
81.
No-Fault-Found
82.
open circuit fault
83.
parallel fault-simulation
84.
short circuit fault
85.
stuck-at fault model
86.
test generation and fault diagnosis
87.
transient fault mitigation
88.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT