Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault collapsing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/94)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Josifovska, Galina
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
DSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal
2015
/
p. 700-705 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
https://doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
3
artikkel kogumikus
Logic simulation and fault collapsing with shared structurally synthesized BDDs
Mironov, Dmitri
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 26th-30th, 2014, Paderborn, Germany : proceedings
2014
/
[2] p. : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Modeling sequential circuits with shared structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Marenkov, Mihhail
;
Mironov, Dmitri
;
Viies, Vladimir
Proceedings of 2014 9th International Design & Test Symposium (IDT) : Sheraton Club des Pins Hotel, Algiers, Algeria, December 16-18, 2014
2014
/
p. 130-135 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
94
1.
conditional fault collapsing
2.
fault collapsing
3.
AI-based fault detection
4.
asynchronous fault detection
5.
automatic fault diagnosis
6.
bearing fault diagnosis
7.
bi-directional fault monitoring devices
8.
control fault models
9.
critical path fault tracing
10.
cross-layer fault tolerance
11.
cross-layered fault management
12.
extended fault class
13.
fault currents
14.
fault analysis
15.
fault analysis model
16.
fault classification
17.
fault classification
18.
fault compensation
19.
fault coverage
20.
fault current and voltage measurements
21.
Fault current limite
22.
fault current limiter
23.
fault detection
24.
fault detection and classification
25.
fault detection and diagnoses
26.
fault detection and diagnosis
27.
fault diagnosis
28.
fault diagnostic
29.
fault diagnostic resolution
30.
fault diagnostics
31.
fault dignosis
32.
fault effects
33.
fault emulation
34.
fault equivalence and dominance
35.
fault handling
36.
fault handling strategy
37.
fault indicator
38.
fault injection
39.
Fault Injection Simulation
40.
fault Interruption
41.
fault localization
42.
fault location
43.
fault management
44.
fault masking
45.
fault modeling
46.
fault models
47.
fault monitoring
48.
fault prediction
49.
fault protection
50.
fault redundancy
51.
fault resilience
52.
fault ride through
53.
Fault ride through enhancement
54.
fault signal
55.
fault simulastion
56.
fault simulation
57.
fault simulation with critical path tracing
58.
fault tolerance
59.
fault tolerant
60.
fault tolerant control
61.
fault tolerant operation
62.
fault tolerant router design
63.
fault tolerant systems
64.
fault tree analysis
65.
fault-injection attack
66.
fault-plane solution
67.
fault-resilience
68.
fault-resistant
69.
fault-ride-through (FRT)
70.
fault-tolerance
71.
fault-tolerant
72.
Fault-tolerant (FT) converters
73.
fault-tolerant control
74.
fault-tolerant converter
75.
functional fault model
76.
high-level control fault model
77.
high-level fault coverage
78.
high-level fault model
79.
high-level fault simulation
80.
high-level functional fault model
81.
Katun fault
82.
low-level fault redundancy
83.
no fault found
84.
No-Fault-Found
85.
open circuit fault
86.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
87.
parallel fault-simulation
88.
short circuit fault
89.
spectrum-based fault localization
90.
stacking fault
91.
stuck-at fault model
92.
test generation and fault diagnosis
93.
transient fault mitigation
94.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT