Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault effects (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/142)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Fault-aware performance assessment approach for embedded networks
Malburg, Jan
;
Janson, Karl
;
Raik, Jaan
;
Dannemann, Frank
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724670
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
142
1.
fault effects
2.
AI-based fault detection
3.
asynchronous fault detection
4.
automatic fault diagnosis
5.
bearing fault diagnosis
6.
bi-directional fault monitoring devices
7.
conditional fault collapsing
8.
control fault models
9.
critical path fault tracing
10.
cross-layer fault tolerance
11.
cross-layered fault management
12.
extended fault class
13.
fault currents
14.
fault analysis
15.
fault analysis model
16.
fault classification
17.
fault classification
18.
fault collapsing
19.
fault compensation
20.
fault coverage
21.
fault current and voltage measurements
22.
Fault current limite
23.
fault current limiter
24.
fault detection
25.
fault detection and classification
26.
fault detection and diagnoses
27.
fault detection and diagnosis
28.
fault detection and diagnostics (FDD)
29.
fault diagnosis
30.
fault diagnostic
31.
fault diagnostic resolution
32.
fault diagnostics
33.
fault dignosis
34.
fault emulation
35.
fault equivalence and dominance
36.
fault handling
37.
fault handling strategy
38.
fault indicator
39.
fault injection
40.
Fault Injection Simulation
41.
fault Interruption
42.
fault localization
43.
fault location
44.
fault management
45.
fault masking
46.
fault modeling
47.
fault models
48.
fault monitoring
49.
fault prediction
50.
fault protection
51.
fault redundancy
52.
fault resilience
53.
fault ride through
54.
Fault ride through enhancement
55.
fault signal
56.
fault simulastion
57.
fault simulation
58.
fault simulation with critical path tracing
59.
fault tolerance
60.
fault tolerant
61.
fault tolerant control
62.
fault tolerant operation
63.
fault tolerant router design
64.
fault tolerant systems
65.
fault tree analysis
66.
fault-injection attack
67.
fault-plane solution
68.
fault-resilience
69.
fault-resistant
70.
fault-ride-through (FRT)
71.
fault-tolerance
72.
fault-tolerant
73.
Fault-tolerant (FT) converters
74.
fault-tolerant control
75.
fault-tolerant converter
76.
functional fault model
77.
high-level control fault model
78.
high-level fault coverage
79.
high-level fault model
80.
high-level fault simulation
81.
high-level functional fault model
82.
hybrid fault detection
83.
Katun fault
84.
low-level fault redundancy
85.
no fault found
86.
No-Fault-Found
87.
open circuit fault
88.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
89.
parallel fault-simulation
90.
photovoltaic fault detection algorithms
91.
PV fault classification
92.
short circuit fault
93.
spectrum-based fault localization
94.
stacking fault
95.
stuck-at fault model
96.
test generation and fault diagnosis
97.
transient fault mitigation
98.
transmission lines fault
99.
algebraic effects
100.
anthropogenic effects
101.
biological effects
102.
bottom-up effects
103.
causal effects
104.
climate changes effects
105.
combinatorial effects
106.
Computational effects
107.
cumulative effects assessment
108.
Delay effects
109.
economic and social effects
110.
effects
111.
electoral effects
112.
electromechanical effects
113.
EMF effects
114.
environmental effects
115.
EU Horizon 2020 research project GRACE (Integrated oil spill response actions and environmental effects)
116.
fiscal and economic effects
117.
gender effects
118.
group effects
119.
health effects
120.
hierarchy-of-effects (HOE)
121.
horizontal effects
122.
indirect effects
123.
innovation effects
124.
interactive fixed effects
125.
layout-based effects
126.
magnetomechanical effects
127.
magneto-mechanical effects
128.
mechanical and thermal effects
129.
micellar effects
130.
multi-actor effects
131.
proximity effects
132.
radiation effects
133.
risk coupling effects
134.
single event effects
135.
single-event effects
136.
solvent effects
137.
spillover effects
138.
spill-over effects
139.
substitution effects
140.
temperature effects
141.
thermal effects
142.
topographic effects
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT