Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault injection (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
12
Vaata veel..
(1/98)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(12)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
2019
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Automated identification of application-dependent safe faults in automotive systems-on-a-chips
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Augusto da Silva, Felipe
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Jenihhin, Maksim
;
Sauer, Christian
Electronics
2022
/
art. 319
https://doi.org/10.3390/electronics11030319
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
3
artikkel kogumikus
Combining fault analysis technologies for ISO26262 functional safety verification
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2019 IEEE 28th Asian Test Symposium (ATS) : 10–13 December 2019, Kolkata, India : proceedings
2019
/
p. 129–134 : ill
https://doi.org/10.1109/ATS47505.2019.00024
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
4
artikkel kogumikus
Determined-safe faults identification : a step towards ISO26262 hardware compliant designs
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Sartoni, Sandro
;
Cantoro, Riccardo
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2020 25th IEEE European Test Symposium (ETS)
2020
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131568
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
5
artikkel kogumikus
Efficient fault injection based on dynamic HDL slicing technique
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 52-53 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854419
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
6
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement
Abideen, Zain Ul
;
Rashid, Muhammad Haroon
IEEE Access
2020
/
p. 207705-207716
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
7
artikkel kogumikus
Machine learning to tackle the challenges of transient and soft errors in complex circuits
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 7-14 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854423
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniques
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks - DSN 2019 : Supplemental Volume : proceedings
2019
/
p. 35-41 : ill
https://doi.org/10.1109/DSN-S.2019.00021
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
9
artikkel kogumikus
Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Sauer, Christian
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
2020
/
art. 19889351, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
10
artikkel ajakirjas
SALSy : security-aware layout synthesis
Eslami, Mohammad
;
Perez, Tiago Diadami
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
arXiv.org
2024
/
13 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2308.06201
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
On the use of defensive schemes for hardware security = Kaitseskeemid riistvara turvalisuse tagamiseks
11
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A systematic literature review on hardware reliability assessment methods for deep neural networks
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Taheri, Mahdi
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
;
Jenihhin, Maksim
ACM Computing Surveys
2024
/
art. 141
https://doi.org/10.1145/3638242
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
12
artikkel kogumikus
Use of formal methods for verification and optimization of fault lists in the scope of ISO26262
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2018 Design and Verification Conference (DVCON) Europe : [proceedings]
2018
/
6 p. : ill
https://repository.tudelft.nl/islandora/object/uuid%3Adbd7f22d-0324-45f5-9180-8fe3fc95a9ce
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
Kirjeid leitud 12, kuvan
1 - 12
võtmesõna
98
1.
fault injection
2.
Fault Injection Simulation
3.
fault-injection attack
4.
false data injection attack
5.
fiber-reinforced composites and injection molding
6.
Gate Injection Transistor (GIT)
7.
gating-aware error injection
8.
ghost injection attack
9.
injection molding
10.
injection of technical water
11.
manual hydrodynamic injection
12.
reactive power injection
13.
zero injection phase
14.
asynchronous fault detection
15.
automatic fault diagnosis
16.
bearing fault diagnosis
17.
bi-directional fault monitoring devices
18.
conditional fault collapsing
19.
control fault models
20.
critical path fault tracing
21.
cross-layer fault tolerance
22.
cross-layered fault management
23.
extended fault class
24.
fault currents
25.
fault analysis
26.
fault analysis model
27.
fault classification
28.
fault classification
29.
fault collapsing
30.
fault compensation
31.
fault coverage
32.
fault current and voltage measurements
33.
Fault current limite
34.
fault current limiter
35.
fault detection
36.
fault detection and diagnoses
37.
fault detection and diagnosis
38.
fault diagnosis
39.
fault diagnostic
40.
fault diagnostic resolution
41.
fault diagnostics
42.
fault dignosis
43.
fault effects
44.
fault emulation
45.
fault equivalence and dominance
46.
fault handling
47.
fault handling strategy
48.
fault indicator
49.
fault Interruption
50.
fault localization
51.
fault management
52.
fault masking
53.
fault modeling
54.
fault models
55.
fault monitoring
56.
fault prediction
57.
fault protection
58.
fault redundancy
59.
fault resilience
60.
fault ride through
61.
Fault ride through enhancement
62.
fault signal
63.
fault simulastion
64.
fault simulation
65.
fault simulation with critical path tracing
66.
fault tolerance
67.
fault tolerant
68.
fault tolerant control
69.
fault tolerant operation
70.
fault tolerant router design
71.
fault tolerant systems
72.
Fault Tree Analysis
73.
fault-plane solution
74.
fault-resilience
75.
fault-resistant
76.
fault-ride-through (FRT)
77.
fault-tolerance
78.
fault-tolerant
79.
Fault-tolerant (FT) converters
80.
fault-tolerant control
81.
fault-tolerant converter
82.
functional fault model
83.
high-level control fault model
84.
high-level fault coverage
85.
high-level fault model
86.
high-level fault simulation
87.
high-level functional fault model
88.
Katun fault
89.
low-level fault redundancy
90.
no fault found
91.
No-Fault-Found
92.
open circuit fault
93.
parallel fault-simulation
94.
short circuit fault
95.
stuck-at fault model
96.
test generation and fault diagnosis
97.
transient fault mitigation
98.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT