Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
gate-level analysis (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/138)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Fast identification of true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Jürimägi, Lembit
Microelectronics reliability
2018
/
p. 252-261 : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus
Hierarchical timing-critical paths analysis in sequential circuits
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Devadze, Sergei
;
Kostin, Sergei
2018 IEEE 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS 2018) : 2 – 4 July 2018, Spain
2018
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/PATMOS.2018.8464176
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
138
1.
gate-level analysis
2.
gate-level circuit abstraction
3.
gate-level netlist
4.
register transfer and gate level simulation
5.
hierarchical two-level analysis
6.
system-level analysis
7.
logic level and high level BDDs
8.
Field Programmable Gate Array (FPGA)
9.
field programmable gate arrays
10.
field-programmable gate array
11.
Field-Programmable Gate Array (FPGA)
12.
field-programmable gate arrays
13.
FPGA (field-programmable gate array)
14.
GaTe
15.
gate and register transfer levels
16.
gate delay
17.
gate driver
18.
Gate Injection Transistor (GIT)
19.
Golden gate assembly
20.
insulated gate bipolar transistors
21.
insulated gate-commutated thyristors
22.
NBTI-critical gate
23.
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
24.
absolute sea level
25.
airport level of service
26.
arousal level
27.
assurance level
28.
behaviour level test generation
29.
bi-level optimization
30.
CO2 level in classrooms
31.
CO2 level in classrooms and kindergartens
32.
confidence level
33.
country-level logistics
34.
customer compatibility level
35.
deep level
36.
deep level traps
37.
determination of the CO2 level
38.
determining the level of creatine
39.
digitalisation level
40.
distribution-level phasor measurement units (D-PMUs)
41.
exposure level
42.
extreme penetration level of non synchronous generation
43.
extreme water level
44.
graduate level
45.
high level DD (HLDD)
46.
high level synthesis
47.
high-level control fault model
48.
high-level control faults
49.
high-level decision diagram
50.
high-level decision diagrams
51.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
52.
high-level expert group on AI
53.
high-level fault coverage
54.
high-level fault model
55.
high-level fault simulation
56.
high-level functional fault model
57.
High-Level Synthesis (HLS)
58.
high-level synthesis for test
59.
high-level test data generation
60.
improvement of safety level at enterprises
61.
improvement of safety level at SMEs
62.
level control
63.
level set
64.
level(s) methodology
65.
level-crossing ADC
66.
level-crossing analog-to-digital converters
67.
level-crossing analogue-to-digital converters (ADC)
68.
logic level
69.
lower trophic level models
70.
low-level control system transportation
71.
low-level fault redundancy
72.
low-level radiation
73.
Low-level RF EMF
74.
macro-level industry influences
75.
mean sea level
76.
module level power electronics (MLPE)
77.
module-level power electronics (MLPE)
78.
multi-level governance
79.
multi-level inverter
80.
multi-level modeling
81.
multi-level perspective
82.
multi-level perspective of sustainability transitions
83.
multi-level selection and processing environment
84.
operational level (OL)
85.
Price level
86.
Process/Product Sigma Performance Level (PSPL)
87.
PV module level power electronics
88.
Register Transfer Level - RTL
89.
register transfer level modeling decision diagams
90.
register-transfer level
91.
relative sea level
92.
relative sea-level change
93.
RH level
94.
school-level policies
95.
sea level
96.
sea level rise
97.
sea level series
98.
sea level trend
99.
sea level: variations and mean
100.
sea-level
101.
sea-level changes
102.
sea-level equation
103.
Sea-level indicator
104.
sea-level prediction
105.
sea-level rise
106.
sea-level trend
107.
seven-level multilevel
108.
skin conductance level
109.
software level TMR
110.
steel-level bureaucracy
111.
strategic level decision makers
112.
system level hazards
113.
system level test
114.
system planning level
115.
system-level evaluation
116.
task-level uninterrupted presence
117.
three-level
118.
three-level inverter
119.
three-level neutral-point-clamped inverter
120.
three-level NPC inverter
121.
three-level T-type
122.
three-level T-type inverter
123.
three-level T-type quasi-impedance-source inverter (3L-T-type qZSI)
124.
three-level voltage inverter
125.
Tool Confidence Level
126.
top-level domain
127.
transaction-level modeling
128.
treatment level
129.
two-level inverter
130.
undergraduate level
131.
water level
132.
water level fluctuation
133.
water level measurements
134.
water level reconstruction
135.
water-level changes
136.
voltage level
137.
voltage level optimisation
138.
3-level T-type inverter
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT