Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Liitotsing
Valitud kirjed
0
teaching design and test of systems (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Lihtotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/203)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Environment for innovative university research training in the field of digital test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ademilua, Tolulope
;
Kruus, Margus
;
Ubar, Raimund-Johannes
2021 30th Annual Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering (EAEEIE)
2021
https://doi.org/10.1109/EAEEIE50507.2021.9531003
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
201
1.
teaching design and test of systems
2.
design and test
3.
design-for-test
4.
Digital test and testable design
5.
parallel design and test
6.
test model design
7.
control systems design
8.
design and implementation of Performance Management Systems
9.
design support systems
10.
nanoelectronic systems design
11.
nano-electronic systems design
12.
design methodology and human-centred design
13.
beliefs about teaching
14.
chemistry teaching
15.
classroom teaching
16.
computer-aided teaching
17.
conception of teaching
18.
coping with online teaching and learning
19.
designing a teaching model
20.
digital teaching
21.
digital teaching tool
22.
effective teaching
23.
effective teaching and learning
24.
effective teaching engineering
25.
entrepreneurial teaching and learning
26.
higher education teaching
27.
Hybrid teaching
28.
integrative teaching method
29.
interactive teaching methods
30.
learning by teaching
31.
logic teaching
32.
maritime cybersecurity certification teaching
33.
mastery teaching
34.
online teaching
35.
practical teaching methods
36.
remote teaching
37.
research oriented teaching
38.
robot teaching roles
39.
robot-assisted teaching
40.
robotic teaching assistants
41.
scholarship of teaching and learning
42.
teaching
43.
teaching best practices
44.
teaching case
45.
teaching challenges
46.
teaching commons
47.
teaching competencies
48.
teaching concept
49.
teaching engineering
50.
teaching engineering ethics
51.
teaching experience
52.
teaching factory
53.
teaching materials
54.
teaching methodology
55.
teaching methods
56.
teaching model
57.
teaching models
58.
teaching of informatics
59.
teaching public administration
60.
teaching strategies
61.
teaching strategy
62.
teaching supply chain management
63.
tools for interactive learning and teaching
64.
web-based teaching
65.
accelerated shelf-life test
66.
adaptive test strategy generation
67.
antigen test
68.
Applications in Test Engineering
69.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
70.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
71.
automated test environment
72.
automated test pattern generation
73.
automatic test case generation
74.
automatic test pattern generation
75.
automatic test program generation
76.
Auvergne test-bed
77.
battery test
78.
behavioral test
79.
behaviour level test generation
80.
bending test
81.
bit-error rate test
82.
Board and System Test
83.
board test
84.
bounds test
85.
built-in self-test
86.
capillary condensation redistribution test
87.
chi-square test
88.
closed bottle test
89.
cognitive screening test
90.
compartment fire test
91.
compartment test
92.
cone penetration test (CPT)
93.
COVID-19 antigen test
94.
cutting test
95.
cybersecurity test bed
96.
DDR4 interconnect test
97.
deterministic test sequences
98.
diagnostic test
99.
digital test
100.
double-pulse test
101.
drawing test
102.
dry droplet antimicrobial test
103.
embedded test
104.
fan pressurisation test
105.
final test result prediction
106.
four-point bending test
107.
FPGA based test
108.
FPGA-Assisted Test
109.
FPGA-centric test
110.
functional self-test
111.
functional test generation
112.
Granger causality test
113.
hardness test
114.
Hierarchical Multi-level Test Generation
115.
high-level synthesis for test
116.
high-level test data generation
117.
highlevel test generation
118.
high-speed serial link test
119.
IEEE 9 bus test system
120.
implementation-independent test generation
121.
in situ tensile test in SEM
122.
industrial field test
123.
in-situ tensile test in SEM
124.
Johansen cointegration test
125.
Kolmogorov-Smirnov test
126.
load test
127.
logic built-in self-test
128.
Luria alternating series test
129.
Mann–Kendall test
130.
Mann-Kendall trend test
131.
memory interconnect test
132.
microprocessor test
133.
Model test
134.
multiplier test
135.
offline test generation
136.
orthogonal test
137.
package test analysis
138.
performance test
139.
piezocone penetration test (CPTu)
140.
Point Load Test index
141.
pressurisation test
142.
processor-centric board test
143.
progressive damage test
144.
provably correct test generation
145.
pseudo-exhaustive test
146.
purity test
147.
real-time room temperature test
148.
rolling thin film oven test
149.
rtioco-based timed test sequences
150.
seasonal Mann Kendall test
151.
seismic piezocone penetration test
152.
self-test
153.
self-test architectures
154.
sentence writing test
155.
serial sevens test
156.
ship towing test tank
157.
similar material simulation test
158.
small-scale fire test
159.
small‐scale test
160.
software based self-test
161.
software-based self-test
162.
software-based self-test (SBST)
163.
soil phosphorus (P) test
164.
standard test method
165.
static load test
166.
static-dynamic probing test (SDT)
167.
stress test
168.
system level test
169.
tensile test
170.
tensile test
171.
test
172.
test and evaluation platform
173.
test automation
174.
test bench
175.
test coverage
176.
test driven development
177.
test driven modelling
178.
test embankment
179.
test equipment
180.
test generation
181.
test generation and fault diagnosis
182.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
183.
test groups
184.
test optimization
185.
test packets
186.
test path synthesis
187.
test patterns
188.
test point insertion
189.
test program generation
190.
test reference year
191.
test replication
192.
test scenario description language
193.
test-bed
194.
test-chips
195.
test-house
196.
test-pattern
197.
test-suite reduction
198.
Three-point bending test
199.
unit root test
200.
usability platform test
201.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT