Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
High-level test synthesis with hierarchical test generation (pealkiri)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/167)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level test synthesis with hierarchical test generation
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings
1999
/
p. 291-296
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
165
1.
Hierarchical Multi-level Test Generation
2.
high-level test data generation
3.
high-level synthesis for test
4.
behaviour level test generation
5.
adaptive test strategy generation
6.
automated test pattern generation
7.
automatic test case generation
8.
automatic test pattern generation
9.
automatic test program generation
10.
functional test generation
11.
highlevel test generation
12.
implementation-independent test generation
13.
offline test generation
14.
provably correct test generation
15.
test generation
16.
test generation and fault diagnosis
17.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
18.
test program generation
19.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
20.
high level synthesis
21.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
22.
high-level synthesis
23.
High-Level Synthesis (HLS)
24.
test path synthesis
25.
system level test
26.
high-speed serial link test
27.
logic level and high level BDDs
28.
hierarchical two-level analysis
29.
synthesis on hierarchical service models
30.
extreme penetration level of non synchronous generation
31.
accelerated shelf-life test
32.
antigen test
33.
Applications in Test Engineering
34.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
35.
automated test environment
36.
Auvergne test-bed
37.
battery test
38.
behavioral test
39.
bending test
40.
bit-error rate test
41.
Board and System Test
42.
board test
43.
bounds test
44.
built-in self-test
45.
capillary condensation redistribution test
46.
chi-square test
47.
closed bottle test
48.
cognitive screening test
49.
compartment fire test
50.
compartment test
51.
cone penetration test (CPT)
52.
COVID-19 antigen test
53.
cutting test
54.
cybersecurity test bed
55.
DDR4 interconnect test
56.
design and test
57.
design-for-test
58.
deterministic test sequences
59.
diagnostic test
60.
digital test
61.
Digital test and testable design
62.
double-pulse test
63.
drawing test
64.
dry droplet antimicrobial test
65.
embedded test
66.
fan pressurisation test
67.
final test result prediction
68.
four-point bending test
69.
FPGA based test
70.
FPGA-Assisted Test
71.
FPGA-centric test
72.
functional self-test
73.
Granger causality test
74.
hardness test
75.
high level DD (HLDD)
76.
high level of security
77.
high-level control fault model
78.
high-level control faults
79.
high-level decision diagram
80.
high-level decision diagrams
81.
High-level Decision Diagrams for Modeling Digital Systems
82.
high-level expert group on AI
83.
high-level fault coverage
84.
high-level fault model
85.
high-level fault simulation
86.
high-level functional fault model
87.
high-temperature synthesis (SHS)
88.
IEEE 9 bus test system
89.
in situ tensile test in SEM
90.
industrial field test
91.
in-situ tensile test in SEM
92.
Johansen cointegration test
93.
Kolmogorov-Smirnov test
94.
load test
95.
logic built-in self-test
96.
Luria alternating series test
97.
Mann–Kendall test
98.
Mann-Kendall trend test
99.
memory interconnect test
100.
microprocessor test
101.
Model test
102.
multiplier test
103.
orthogonal test
104.
package test analysis
105.
parallel design and test
106.
performance test
107.
piezocone penetration test (CPTu)
108.
Point Load Test index
109.
pressurisation test
110.
processor-centric board test
111.
progressive damage test
112.
pseudo-exhaustive test
113.
purity test
114.
real-time room temperature test
115.
rolling thin film oven test
116.
rtioco-based timed test sequences
117.
seasonal Mann Kendall test
118.
seismic piezocone penetration test
119.
Self-Propagating High-Temperature Synthesis
120.
self-test
121.
self-test architectures
122.
sentence writing test
123.
serial sevens test
124.
ship towing test tank
125.
similar material simulation test
126.
small-scale fire test
127.
small‐scale test
128.
software based self-test
129.
software-based self-test
130.
software-based self-test (SBST)
131.
soil phosphorus (P) test
132.
standard test method
133.
static load test
134.
static-dynamic probing test (SDT)
135.
stress test
136.
teaching design and test of systems
137.
tensile test
138.
tensile test
139.
test
140.
test and evaluation platform
141.
test automation
142.
test bench
143.
test coverage
144.
test driven development
145.
test driven modelling
146.
test embankment
147.
test equipment
148.
test groups
149.
test model design
150.
test optimization
151.
test packets
152.
test patterns
153.
test point insertion
154.
test reference year
155.
test replication
156.
test scenario description language
157.
test-bed
158.
test-chips
159.
test-house
160.
test-pattern
161.
test-suite reduction
162.
Three-point bending test
163.
unit root test
164.
usability platform test
165.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT